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              服務(wù)項目
              IC真?zhèn)螜z測
              DPA檢測
              失效分析
              開發(fā)及功能驗證
              材料分析
              可靠性驗證
              電磁兼容(EMC)
              化學(xué)分析
              無損檢測
              標(biāo)簽檢測
              外觀檢測
              X-Ray檢測
              功能檢測
              破壞性檢測
              丙酮測試
              刮擦測試
              HCT測試
              開蓋測試
              增值服務(wù)
              烘烤
              編帶
              包裝與物流
              DPA檢測-三級
              外觀檢測
              X-Ray檢測
              功能檢測
              粒子碰撞噪聲檢測
              密封
              內(nèi)部水汽含量
              超聲波掃描(SAT檢測)
              可焊性測試
              開蓋測試
              鍵合強度
              芯片剪切強度
              結(jié)構(gòu)
              非破壞分析
              3D數(shù)碼顯微鏡
              X-Ray檢測
              超聲波掃描(SAT檢測)
              電性檢測
              半導(dǎo)體組件參數(shù)分析
              電特性測試
              點針信號量測
              靜電放電/過度電性應(yīng)力/閂鎖試驗
              失效點定位
              砷化鎵銦微光顯微鏡
              激光束電阻異常偵測
              Thermal EMMI(InSb)
              破壞性物理分析
              開蓋測試
              芯片去層
              切片測試
              物性分析
              剖面/晶背研磨
              離子束剖面研磨(CP)
              掃描式電子顯微鏡(SEM)
              工程樣品封裝服務(wù)
              晶圓劃片
              芯片打線/封裝
              競爭力分析
              芯片結(jié)構(gòu)分析
              新產(chǎn)品開發(fā)測試(FT)
              FPGA開發(fā)
              單片機開發(fā)
              測試電路板設(shè)計/制作
              關(guān)鍵功能測試
              分立元器件測試
              功能檢測
              編程燒錄
              芯片電路修改
              芯片電路修改/點針墊偵錯
              新型 WLCSP 電路修正技術(shù)
              結(jié)構(gòu)觀察
              穿透式電子顯微鏡(TEM)
              掃描式電子顯微鏡(SEM)
              雙束聚焦離子束
              成分分析
              穿透式電子顯微鏡(TEM)
              掃描式電子顯微鏡(SEM)
              光譜能量分析儀
              光譜能量分析儀
              車載集成電路可靠性驗證
              車電零部件可靠性驗證(AEC)
              板階 (BLR) 車電可靠性驗證
              車用系統(tǒng)/PCB可靠度驗證
              可靠度板階恒加速試驗
              間歇工作壽命試驗(IOL)
              可靠度外形尺寸試驗
              可靠度共面性試驗
              環(huán)境類試驗
              高低溫
              恒溫恒濕
              冷熱沖擊
              HALT試驗
              HASS試驗
              快速溫變
              溫度循環(huán)
              UV紫外老化
              氙燈老化
              水冷測試
              高空低氣壓
              交變濕熱
              機械類試驗
              拉力試驗
              芯片強度試驗
              高應(yīng)變率-振動試驗
              低應(yīng)變率-板彎/彎曲試驗
              高應(yīng)變率-機械沖擊試驗
              芯片封裝完整性-封裝打線強度試驗
              芯片封裝完整性-封裝體完整性測試
              三綜合(溫度、濕度、振動)
              四綜合(溫度、濕度、振動、高度)
              自由跌落
              紙箱抗壓
              腐蝕類試驗
              氣體腐蝕
              鹽霧
              臭氧老化
              耐試劑試驗
              IP防水/防塵試驗
              IP防水等級(IP00~IP69K)
              冰水沖擊
              浸水試驗
              JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測試
              IP防塵等級(IP00~IP69)
              電磁兼容(EMC)
              射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
              傳導(dǎo)干擾測試
              電磁輻射比吸收率測試
              電快速瞬變脈沖群抗擾度測試
              電壓閃爍測試
              電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度
              工頻磁場抗擾度測試
              諧波干擾測試
              靜電放電抗擾度測試
              浪涌(沖擊)抗擾度測試
              輻射干擾測試
              無線射頻測試
              高效液相色譜分析(HPLC)
              ROHS檢測
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              REACH檢測
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              重金屬檢測
              無鉛測試
              阻燃性試驗
              阻燃性試驗
              應(yīng)用領(lǐng)域
              案例標(biāo)準(zhǔn)
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              深圳創(chuàng)芯在線檢測實驗室
              (簡稱:創(chuàng)芯檢測)
              深圳創(chuàng)芯在線檢測實驗室成立于2006年,隸屬于深圳市創(chuàng)芯在線檢測服務(wù)有限公司,是電子元器件專業(yè)檢測機構(gòu),由上百名專業(yè)領(lǐng)域工程師及行業(yè)精英組成,迄今為止已建有標(biāo)準(zhǔn)化實驗室3個,實驗室面積1800平米以上。
              創(chuàng)芯檢測始終秉持“專業(yè)、權(quán)威、高效、創(chuàng)新”的宗旨,重金購置了國際先進(jìn)檢測設(shè)備,檢測嚴(yán)格遵照國際檢測標(biāo)準(zhǔn)及方法,是經(jīng)中國合格評定國家認(rèn)可委員會(CNAS)認(rèn)可和廣東省市場監(jiān)督管理局(CMA)資質(zhì)認(rèn)定的檢測機構(gòu),所出具的檢測報告具有國際互認(rèn)效力,可以在世界上58個國家的70個實驗室認(rèn)可機構(gòu)得到互認(rèn)。
              2006
              年
              成立時間
              3
              個
              標(biāo)準(zhǔn)化實驗室
              1800+
              平米
              實驗室面積
              走進(jìn)創(chuàng)芯在線檢測實驗室
              作為國內(nèi)專業(yè)IC第三方檢測機構(gòu),開放IC真?zhèn)螜z測、DPA檢測、失效分析、開發(fā)及功能驗證、材料分析、可靠性驗證、電磁兼容 (EMC) 和化學(xué)分析等八大服務(wù)項目,在全球范圍內(nèi)為企業(yè)提供一站式解決方案。
              全國熱線

              4008-655-800

              CXOLab創(chuàng)芯在線檢測實驗室

              深圳市龍崗區(qū)吉華街道水徑社區(qū)吉華路393號英達(dá)豐工業(yè)園A棟2樓

              深圳市福田區(qū)華強北街道振華路深紡大廈C座3樓N307

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