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                • 服務(wù)項(xiàng)目
                  IC真?zhèn)螜z測(cè)
                  DPA檢測(cè)
                  失效分析
                  開發(fā)及功能驗(yàn)證
                  材料分析
                  可靠性驗(yàn)證
                  電磁兼容(EMC)
                  化學(xué)分析
                  無損檢測(cè)
                  標(biāo)簽檢測(cè)
                  外觀檢測(cè)
                  X-Ray檢測(cè)
                  功能檢測(cè)
                  破壞性檢測(cè)
                  丙酮測(cè)試
                  刮擦測(cè)試
                  HCT測(cè)試
                  開蓋測(cè)試
                  增值服務(wù)
                  烘烤
                  編帶
                  包裝與物流
                  DPA檢測(cè)-三級(jí)
                  外觀檢測(cè)
                  X-Ray檢測(cè)
                  功能檢測(cè)
                  粒子碰撞噪聲檢測(cè)
                  密封
                  內(nèi)部水汽含量
                  超聲波掃描(SAT檢測(cè))
                  可焊性測(cè)試
                  開蓋測(cè)試
                  鍵合強(qiáng)度
                  芯片剪切強(qiáng)度
                  結(jié)構(gòu)
                  非破壞分析
                  3D數(shù)碼顯微鏡
                  X-Ray檢測(cè)
                  超聲波掃描(SAT檢測(cè))
                  電性檢測(cè)
                  半導(dǎo)體組件參數(shù)分析
                  電特性測(cè)試
                  點(diǎn)針信號(hào)量測(cè)
                  靜電放電/過度電性應(yīng)力/閂鎖試驗(yàn)
                  失效點(diǎn)定位
                  砷化鎵銦微光顯微鏡
                  激光束電阻異常偵測(cè)
                  Thermal EMMI(InSb)
                  破壞性物理分析
                  開蓋測(cè)試
                  芯片去層
                  切片測(cè)試
                  物性分析
                  剖面/晶背研磨
                  離子束剖面研磨(CP)
                  掃描式電子顯微鏡(SEM)
                  工程樣品封裝服務(wù)
                  晶圓劃片
                  芯片打線/封裝
                  競(jìng)爭(zhēng)力分析
                  芯片結(jié)構(gòu)分析
                  新產(chǎn)品開發(fā)測(cè)試(FT)
                  FPGA開發(fā)
                  單片機(jī)開發(fā)
                  測(cè)試電路板設(shè)計(jì)/制作
                  關(guān)鍵功能測(cè)試
                  分立元器件測(cè)試
                  功能檢測(cè)
                  編程燒錄
                  芯片電路修改
                  芯片電路修改/點(diǎn)針墊偵錯(cuò)
                  新型 WLCSP 電路修正技術(shù)
                  結(jié)構(gòu)觀察
                  穿透式電子顯微鏡(TEM)
                  掃描式電子顯微鏡(SEM)
                  雙束聚焦離子束
                  成分分析
                  穿透式電子顯微鏡(TEM)
                  掃描式電子顯微鏡(SEM)
                  光譜能量分析儀
                  光譜能量分析儀
                  車載集成電路可靠性驗(yàn)證
                  車電零部件可靠性驗(yàn)證(AEC)
                  板階 (BLR) 車電可靠性驗(yàn)證
                  車用系統(tǒng)/PCB可靠度驗(yàn)證
                  可靠度板階恒加速試驗(yàn)
                  間歇工作壽命試驗(yàn)(IOL)
                  可靠度外形尺寸試驗(yàn)
                  可靠度共面性試驗(yàn)
                  環(huán)境類試驗(yàn)
                  高低溫
                  恒溫恒濕
                  冷熱沖擊
                  HALT試驗(yàn)
                  HASS試驗(yàn)
                  快速溫變
                  溫度循環(huán)
                  UV紫外老化
                  氙燈老化
                  水冷測(cè)試
                  高空低氣壓
                  交變濕熱
                  機(jī)械類試驗(yàn)
                  拉力試驗(yàn)
                  芯片強(qiáng)度試驗(yàn)
                  高應(yīng)變率-振動(dòng)試驗(yàn)
                  低應(yīng)變率-板彎/彎曲試驗(yàn)
                  高應(yīng)變率-機(jī)械沖擊試驗(yàn)
                  芯片封裝完整性-封裝打線強(qiáng)度試驗(yàn)
                  芯片封裝完整性-封裝體完整性測(cè)試
                  三綜合(溫度、濕度、振動(dòng))
                  四綜合(溫度、濕度、振動(dòng)、高度)
                  自由跌落
                  紙箱抗壓
                  腐蝕類試驗(yàn)
                  氣體腐蝕
                  鹽霧
                  臭氧老化
                  耐試劑試驗(yàn)
                  IP防水/防塵試驗(yàn)
                  IP防水等級(jí)(IP00~IP69K)
                  冰水沖擊
                  浸水試驗(yàn)
                  JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測(cè)試
                  IP防塵等級(jí)(IP00~IP69)
                  電磁兼容(EMC)
                  射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
                  傳導(dǎo)干擾測(cè)試
                  電磁輻射比吸收率測(cè)試
                  電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試
                  電壓閃爍測(cè)試
                  電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度
                  工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
                  諧波干擾測(cè)試
                  靜電放電抗擾度測(cè)試
                  浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試
                  輻射干擾測(cè)試
                  無線射頻測(cè)試
                  高效液相色譜分析(HPLC)
                  ROHS檢測(cè)
                  裂解/氣相色譜/質(zhì)譜聯(lián)用分析(PY-GC-MS)
                  REACH檢測(cè)
                  電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析(ICP-OES)
                  重金屬檢測(cè)
                  無鉛測(cè)試
                  阻燃性試驗(yàn)
                  阻燃性試驗(yàn)
                  應(yīng)用領(lǐng)域
                  案例標(biāo)準(zhǔn)
                  測(cè)試案例(報(bào)告形式)
                  檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
                  IC真?zhèn)螜z測(cè)
                  失效分析
                  功能檢測(cè)
                  開蓋檢測(cè)
                  X-Ray檢測(cè)
                  編程燒錄
                  可焊性測(cè)試
                  外觀檢測(cè)
                  電特性測(cè)試
                  切片檢測(cè)
                  SAT檢測(cè)
                  DPA檢測(cè)
                  ROHS檢測(cè)
                  溫度老化測(cè)試
                  IGBT檢測(cè)
                  AS6081標(biāo)準(zhǔn)
                  AEC-Q100測(cè)試項(xiàng)目
                  參考標(biāo)準(zhǔn)
                  GJB 548標(biāo)準(zhǔn)
                  新聞動(dòng)態(tài)
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                  N76E003AT20 電特性測(cè)試

                  日期:2024-11-04 17:54:50 瀏覽量:1368 作者:創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心

                  客戶提供制造商為NUVOTON型號(hào)N76E003AT20的4片樣品(良品1片和上機(jī)品3片:G1,F(xiàn)1~F3)使用半導(dǎo)體管特性圖示儀驗(yàn)證芯片管腳電特性曲線,通過開路/短路測(cè)試檢查芯片是否損壞。

                  測(cè)試條件:橫軸:X = 0.5V/div;

                  縱軸:Y = 0.5mA/div。

                  其他檢測(cè)案例
                  • 分立器件失效分析報(bào)告
                  • MPR121QR2 可焊性測(cè)試報(bào)告
                  • FM25V02-G編程燒錄測(cè)試報(bào)告
                  • SN65HVD70DGS 功能檢測(cè)報(bào)告
                  • LTM8027EV#PBF 電特性測(cè)試
                  • PIC12F508-I/P 編程燒錄報(bào)告
                  全國(guó)熱線

                  4008-655-800

                  CXOLab創(chuàng)芯在線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

                  深圳市龍崗區(qū)吉華街道水徑社區(qū)吉華路393號(hào)英達(dá)豐工業(yè)園A棟2樓

                  深圳市福田區(qū)華強(qiáng)北街道振華路深紡大廈C座3樓N307

                  粵ICP備2023133780號(hào)    創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2025

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