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    FF600R12ME4 IGBT檢測

    日期:2024-11-04 18:19:18 瀏覽量:1080 作者:創(chuàng)芯在線檢測中心

    樣品數(shù)量為22件。設(shè)置條件為Tj=100℃,1.1x 電壓,共20000個循環(huán)。待試驗箱溫度達到常溫后,取出樣品,在實驗室環(huán)境中恢復(fù)2h后檢查外觀。

    測試結(jié)果:

    所有樣品通過功率循環(huán)(PC)試驗;

    樣品表面無污跡、銹跡、涂層起泡、脫落等損傷;

    樣品無殼體變形、斷裂,引線無機械損傷、腐蝕等現(xiàn)象;

    樣品的型號等標(biāo)記清晰正確。

    其他檢測案例
    • AO3407 溫度老化測試報告
    • 集成電路 NCV57101DWR2G 失效分析報告
    • 92813-025TLF可焊性測試報告
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    • 集成電路失效分析報告:AT24C04C-SSHM-T檢測
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