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      元器件DPA常規(guī)檢測項目及原理
      元器件DPA常規(guī)檢測項目及原理

      元器件DPA檢測是一種針對單個電子元器件進行的DPA攻擊和防御方法。它可以幫助制造商檢測設備中可能存在的漏洞和安全隱患,從而提高設備的安全性和可靠性。本文收集整理了一些資料,期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。

      2023-09-21 14:03:00
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      硬核!元器件靜態(tài)參數(shù)測試竟如此簡單!
      硬核!元器件靜態(tài)參數(shù)測試竟如此簡單!

      近幾年,汽車領域發(fā)展的如火如荼 帶動了國產(chǎn)分立元器件需求的增長 汽車應用中的高壓MOS、IGBT等 元器件的測試需求也隨之日益增加 為了滿足廣大客戶朋友們對元器件的檢測需求 給客戶持續(xù)提供高效的檢測服務

      2023-08-31 17:36:00
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      電路板上的元器件好壞判斷 第三方實驗室
      電路板上的元器件好壞判斷 第三方實驗室

      電路板上的元器件好壞判斷是電子產(chǎn)品維修中非常重要的一環(huán)。在電路板上,每個元器件都有其特定的功能,但如果元器件出現(xiàn)問題,可能會導致整個電路板無法正常工作。因此,快速準確地判斷電路板上元器件的好壞非常重要,以便快速修復問題并避免不必要的浪費。如果您對即將涉及的內(nèi)容感興趣,那么請繼續(xù)閱讀下文吧,希望能對您有所幫助。

      2023-06-30 14:25:00
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      元器件的識別及測量儀器的使用
      元器件的識別及測量儀器的使用

      元器件是電子產(chǎn)品中不可或缺的部分,而元器件的識別和測量是電子工程師和研究人員在研發(fā)和制造電子產(chǎn)品時必不可少的工作。本文將介紹元器件的識別及測量儀器的使用。

      2023-06-29 15:02:02
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      如何進行ic芯片開蓋測試?專注元器件領域
      如何進行ic芯片開蓋測試?專注元器件領域

      元器件開蓋測試是指對元器件進行開封,以便進行測試和分析,也是電子產(chǎn)品生產(chǎn)中的重要環(huán)節(jié)。在 IC 芯片開封的過程中,需要遵循一些基本原則和方法,以確保測試的準確性和可靠性。如何完成ic芯片的開封工作,成為了電子廠商普遍關注的問題。

      2023-06-25 17:48:14
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      元器件成分分析檢測的流程及注意事項
      元器件成分分析檢測的流程及注意事項

      元器件是電路中不可或缺的部分,為了確保元器件的質(zhì)量和可靠性,元器件成分分析檢測是一項必不可少的環(huán)節(jié)。本文將介紹元器件成分分析檢測的流程及注意事項。

      2023-05-29 16:46:10
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      專注元器件領域:FMEA和DPA的區(qū)別
      專注元器件領域:FMEA和DPA的區(qū)別

      在元器件領域,F(xiàn)MEA 和 DPA 是兩種常見的失效模式和影響分析工具。雖然這兩種工具都旨在幫助團隊識別和解決潛在的問題,但它們的目的、應用和結(jié)果表達方式有所不同。本文將介紹 FMEA 和 DPA 的區(qū)別,并提供實用的建議,以幫助團隊更好地利用這兩種工具。

      2023-05-17 16:21:19
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      元器件產(chǎn)品可靠性測試執(zhí)行標準有哪些?
      元器件產(chǎn)品可靠性測試執(zhí)行標準有哪些?

      元器件產(chǎn)品可靠性測試執(zhí)行標準是指用于指導元器件產(chǎn)品可靠性測試的標準和規(guī)范。這些標準和規(guī)范通常由相關機構和組織制定和發(fā)布,以確保元器件產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。本文將詳細介紹一些常用的元器件產(chǎn)品可靠性測試執(zhí)行標準。

      2023-04-11 15:19:38
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      光電子元器件可靠性測試主要檢測那些項目?
      光電子元器件可靠性測試主要檢測那些項目?

      光電子元器件的檢測是一項必不可少的基礎性工作,如何準確有效地檢測元器件的相關參數(shù),判斷元器件的是否正常要根據(jù)不同的元器件采用不同的方法,從而判斷元器件的正常與否。其中,需要做可靠性檢測的產(chǎn)品種類有很多,各企業(yè)根據(jù)需求不同,會有不同的檢測需求。本文收集整理了一些資料,期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。

      2023-02-01 18:15:38
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      image
      在超聲波顯微鏡(SAT)檢測:捕捉元器件封裝內(nèi)部缺陷

      超聲波顯微鏡,英文名Scanning Acoustic Tomography,簡稱SAT。超聲波發(fā)射后傳遞到樣品封裝內(nèi)部,如遇到任何缺陷點都會表現(xiàn)在反射波的形態(tài)中。設備根據(jù)反射波的形態(tài)計算出圖像,檢測人員可快速鎖定缺陷的位置、尺寸和類型。

      2022-11-09 17:09:00
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