<optgroup id="oeuxd"></optgroup>
<big id="oeuxd"><cite id="oeuxd"></cite></big>
    • <s id="oeuxd"></s>
    • <strike id="oeuxd"><small id="oeuxd"></small></strike>

        服務(wù)項目
        IC真?zhèn)螜z測
        DPA檢測
        失效分析
        開發(fā)及功能驗證
        材料分析
        可靠性驗證
        電磁兼容(EMC)
        化學分析
        無損檢測
        標簽檢測
        外觀檢測
        X-Ray檢測
        功能檢測
        破壞性檢測
        丙酮測試
        刮擦測試
        HCT測試
        開蓋測試
        增值服務(wù)
        烘烤
        編帶
        包裝與物流
        DPA檢測-三級
        外觀檢測
        X-Ray檢測
        功能檢測
        粒子碰撞噪聲檢測
        密封
        內(nèi)部水汽含量
        超聲波掃描(SAT檢測)
        可焊性測試
        開蓋測試
        鍵合強度
        芯片剪切強度
        結(jié)構(gòu)
        非破壞分析
        3D數(shù)碼顯微鏡
        X-Ray檢測
        超聲波掃描(SAT檢測)
        電性檢測
        半導體組件參數(shù)分析
        電特性測試
        點針信號量測
        靜電放電/過度電性應力/閂鎖試驗
        失效點定位
        砷化鎵銦微光顯微鏡
        激光束電阻異常偵測
        Thermal EMMI(InSb)
        破壞性物理分析
        開蓋測試
        芯片去層
        切片測試
        物性分析
        剖面/晶背研磨
        離子束剖面研磨(CP)
        掃描式電子顯微鏡(SEM)
        工程樣品封裝服務(wù)
        晶圓劃片
        芯片打線/封裝
        競爭力分析
        芯片結(jié)構(gòu)分析
        新產(chǎn)品開發(fā)測試(FT)
        FPGA開發(fā)
        單片機開發(fā)
        測試電路板設(shè)計/制作
        關(guān)鍵功能測試
        分立元器件測試
        功能檢測
        編程燒錄
        芯片電路修改
        芯片電路修改/點針墊偵錯
        新型 WLCSP 電路修正技術(shù)
        結(jié)構(gòu)觀察
        穿透式電子顯微鏡(TEM)
        掃描式電子顯微鏡(SEM)
        雙束聚焦離子束
        成分分析
        穿透式電子顯微鏡(TEM)
        掃描式電子顯微鏡(SEM)
        光譜能量分析儀
        光譜能量分析儀
        車載集成電路可靠性驗證
        車電零部件可靠性驗證(AEC)
        板階 (BLR) 車電可靠性驗證
        車用系統(tǒng)/PCB可靠度驗證
        可靠度板階恒加速試驗
        間歇工作壽命試驗(IOL)
        可靠度外形尺寸試驗
        可靠度共面性試驗
        環(huán)境類試驗
        高低溫
        恒溫恒濕
        冷熱沖擊
        HALT試驗
        HASS試驗
        快速溫變
        溫度循環(huán)
        UV紫外老化
        氙燈老化
        水冷測試
        高空低氣壓
        交變濕熱
        機械類試驗
        拉力試驗
        芯片強度試驗
        高應變率-振動試驗
        低應變率-板彎/彎曲試驗
        高應變率-機械沖擊試驗
        芯片封裝完整性-封裝打線強度試驗
        芯片封裝完整性-封裝體完整性測試
        三綜合(溫度、濕度、振動)
        四綜合(溫度、濕度、振動、高度)
        自由跌落
        紙箱抗壓
        腐蝕類試驗
        氣體腐蝕
        鹽霧
        臭氧老化
        耐試劑試驗
        IP防水/防塵試驗
        IP防水等級(IP00~IP69K)
        冰水沖擊
        浸水試驗
        JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測試
        IP防塵等級(IP00~IP69)
        電磁兼容(EMC)
        射頻場感應的傳導騷擾抗擾度
        傳導干擾測試
        電磁輻射比吸收率測試
        電快速瞬變脈沖群抗擾度測試
        電壓閃爍測試
        電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度
        工頻磁場抗擾度測試
        諧波干擾測試
        靜電放電抗擾度測試
        浪涌(沖擊)抗擾度測試
        輻射干擾測試
        無線射頻測試
        高效液相色譜分析(HPLC)
        ROHS檢測
        裂解/氣相色譜/質(zhì)譜聯(lián)用分析(PY-GC-MS)
        REACH檢測
        電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析(ICP-OES)
        重金屬檢測
        無鉛測試
        阻燃性試驗
        阻燃性試驗
        應用領(lǐng)域
        案例標準
        測試案例(報告形式)
        檢測標準
        IC真?zhèn)螜z測
        失效分析
        功能檢測
        開蓋檢測
        X-Ray檢測
        編程燒錄
        可焊性測試
        外觀檢測
        電特性測試
        切片檢測
        SAT檢測
        DPA檢測
        ROHS檢測
        溫度老化測試
        IGBT檢測
        AS6081標準
        AEC-Q100測試項目
        參考標準
        GJB 548標準
        新聞動態(tài)
        關(guān)于我們
        企業(yè)概括 發(fā)展歷程 榮譽資質(zhì) 企業(yè)文化 人才招聘 聯(lián)系方式
        會員登錄
        登錄 注冊
        EN
        ?公司新聞?
        ?風險分析報告?
        ?行業(yè)資訊?
        ?資料下載?
        ?常見問題?
        可靠性分析相關(guān)資訊
        可靠性分析 電子產(chǎn)品包裝跌落測試的標準及判定準則
        可靠性分析 電子產(chǎn)品包裝跌落測試的標準及判定準則

        包裝運輸?shù)恼駝訙y試,其實影響包裝運輸質(zhì)量評估的因素遠不止這些。包裝跌落測試是為了產(chǎn)品包裝后在模擬不同的棱、角、面與不同的高度跌落于地面時的情況,從而了解產(chǎn)品受損情況及評估產(chǎn)品包裝組件在跌落時所能承受的墮落高度及耐沖擊強度,從而根據(jù)產(chǎn)品實際情況及國家標準范圍內(nèi)進行改進、完善包裝設(shè)計。

        2022-07-07 15:35:29
        查看詳情
        可靠性分析 電子產(chǎn)品可靠性試驗國家標準
        可靠性分析 電子產(chǎn)品可靠性試驗國家標準

        一般來講為評估分析電子產(chǎn)品的可靠性所做的試驗稱為可靠性試驗,通過可靠性試驗,可確定電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下工作或儲存的可靠性特征量,對使用生產(chǎn)和設(shè)計提供有用的數(shù)據(jù);也可能會暴露產(chǎn)品在設(shè)計、原料和工藝過程中出現(xiàn)的問題。

        2022-06-06 15:36:23
        查看詳情
        產(chǎn)品可靠性分析 高低溫對產(chǎn)品可靠性有哪些影響?
        產(chǎn)品可靠性分析 高低溫對產(chǎn)品可靠性有哪些影響?

        高低溫測試又叫作高低溫循環(huán)測試,是環(huán)境可靠性測試中的一項?;旧纤械漠a(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲保存,或者工作運行。有些環(huán)境下的溫度會不斷變化,時高時低。這種不斷變化的溫度環(huán)境會造成產(chǎn)品的功能、性能、質(zhì)量及壽命等受到影響,會加速產(chǎn)品的老化,縮短產(chǎn)品的使用壽命。如果產(chǎn)品長期處于這種大幅度交替變化的高溫、低溫環(huán)境下,則需要具備足夠的抗高低溫循環(huán)的能力。這樣我們就需要模擬一定的環(huán)境條件,對產(chǎn)品進行高低溫測試。高低溫試驗是產(chǎn)品可靠性的必測項目,那么高低溫試驗對產(chǎn)品到底有哪些影響?

        2022-06-01 14:49:49
        查看詳情
        PCB線路板熱可靠性分析與判斷
        PCB線路板熱可靠性分析與判斷

        本文提出的Flotherm軟件在分析傳熱學方面起著巨大作用,尤其適用于電子線路板熱可靠性的分析與判斷。其在電子線路板熱可靠性分析中的應用,關(guān)鍵在于如何構(gòu)建合理、有效的Flotherm模型,以期在確保精確度的同時,符合計算機內(nèi)存的容量需求。

        2022-05-26 16:00:00
        查看詳情
        低氣壓環(huán)境下的電子元器件可靠性分析
        低氣壓環(huán)境下的電子元器件可靠性分析

        可靠性可以綜合反映產(chǎn)品的質(zhì)量。電子元件的可靠性是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ),要提高設(shè)備或系統(tǒng)的可靠性必須提高電子元件的可靠性??煽啃允请娮釉匾|(zhì)量指標,須加以考核和檢驗。為幫助大家深入了解,本文將對低氣壓環(huán)境下的電子元器件可靠性的相關(guān)知識予以匯總。如果您對本文即將要涉及的內(nèi)容感興趣的話,那就繼續(xù)往下閱讀吧。

        2022-05-17 15:10:36
        查看詳情
        無鉛焊點可靠性原因分析 測試方法有哪幾種
        無鉛焊點可靠性原因分析 測試方法有哪幾種

        產(chǎn)品檢驗是現(xiàn)代電子企業(yè)生產(chǎn)中必不可少的質(zhì)量監(jiān)控手段,主要起到對產(chǎn)品生產(chǎn)的過程控制、質(zhì)量把關(guān)、判定產(chǎn)品的合格性等作用。產(chǎn)品的檢驗應執(zhí)行自檢、互檢和專職檢驗相結(jié)合的“三檢”制度。電子封裝中廣泛采用的SMT封裝技術(shù)及新型的芯片尺寸封裝(CSP)、焊球陣列(BGA)等封裝技術(shù)均要求通過焊點直接實現(xiàn)異材間電氣及剛性機械連接(主要承受剪切應變),它的質(zhì)量與可靠性決定了電子產(chǎn)品的質(zhì)量。

        2022-04-29 14:23:36
        查看詳情
        數(shù)據(jù)可靠性的定義是什么?可靠性分析的重要性和意義
        數(shù)據(jù)可靠性的定義是什么?可靠性分析的重要性和意義

        數(shù)據(jù)可靠性原本在中文里叫數(shù)據(jù)完整性,現(xiàn)在改稱為數(shù)據(jù)可靠性。數(shù)據(jù)可靠性(DataIntegrity)是指在數(shù)據(jù)的生命周期內(nèi),所有數(shù)據(jù)都是完全的、一致的和準確的程度。保證數(shù)據(jù)的完整性意味著以準確的、真實的、完全地代表著實際發(fā)生的方式收集、記錄、報告和保存數(shù)據(jù)和信息。數(shù)據(jù)可靠性是近年全球藥品監(jiān)管機構(gòu)重點關(guān)注的問題,也是CFDA自2015年7月以來開展全國臨床試驗核查的動因和重點內(nèi)容。

        2022-04-27 14:05:26
        查看詳情
        高可靠性pcb線路板具備非常明顯的14個特征
        高可靠性pcb線路板具備非常明顯的14個特征

        無論是在制造組裝流程還是在實際使用中,PCB都要具有可靠的性能,這一點至關(guān)重要。除相關(guān)成本外,組裝過程中的缺陷可能會由PCB帶進最終產(chǎn)品,在實際使用過程中可能會發(fā)生故障,導致索賠。PCB不論內(nèi)在質(zhì)量如何,表面上都差不多,正是透過表面,我們才看到差異,而這些差異對PCB在整個壽命中的耐用性和功能至為關(guān)鍵。下面一起來看看高可靠性pcb線路板具備非常明顯的14個特征:

        2022-04-08 15:02:40
        查看詳情
        電子封裝可靠性
        電子封裝可靠性受什么因素影響?缺陷及失效詳細說明

        電子封裝是電子制造產(chǎn)業(yè)鏈中將芯片轉(zhuǎn)換為能夠可靠工作的器件的過程。由于裸芯片無法長期耐受工作環(huán)境的載荷、缺乏必要的電信號連接,無法直接用于電子設(shè)備。因此,雖然不同類型產(chǎn)品有差別,但是電子封裝的主要功能比較接近,主要包括四大功能:機械支撐,將芯片及內(nèi)部其他部件固定在指定位置;環(huán)境保護,保護芯片免受外界的水汽、腐蝕、灰塵、沖擊等載荷影響;電信號互連,為內(nèi)部組件提供電通路及供電;散熱,將芯片工作時產(chǎn)生的熱量及時導出[1]。按照工藝階段的不同,電子封裝通??煞譃榱慵壏庋b(芯片級互連)、 一級封裝(芯片級封

        2021-12-29 14:06:43
        查看詳情
        PCBA功能測試主要包括什么?需要哪些測試設(shè)備?
        產(chǎn)品可靠性分析:HAST高壓加速老化試驗判斷失效方法

        隨著半導體可靠性的提高,前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效,因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多。 原理: 試樣在高溫高濕度以及偏壓的苛刻環(huán)境下,加速濕氣穿過外部的保護層,或沿著金屬和外保護層的分界面穿透,造成試樣的失效。

        2021-11-03 16:11:00
        查看詳情
        1 2
        熱門文章
        UV測試是什么?UV測試通用檢測標準及流程 什么是電氣性能?電氣性能測試包括什么? 溫升測試(Temperature rise test)-電性能測試 芯片開蓋(Decap)檢測的有效方法及全過程細節(jié) 焊縫檢測探傷一級二級三級標準是多少? CNAS認證是什么?實驗室進行CNAS認可的目的及意義 芯片切片分析是什么?如何進行切片分析試驗? 什么是IC測試?實現(xiàn)芯片測試的解決方法介紹 芯片發(fā)熱是不是芯片壞了?在多少溫度下會損壞
        熱門標簽
        • IC真?zhèn)螜z測
        • DPA檢測
        • 失效分析
        • 開發(fā)及功能驗證
        • 材料分析
        • 可靠性驗證
        • 化學分析
        • 外觀檢測
        • X-Ray檢測
        • 功能檢測
        • SAT檢測
        • 可焊性測試
        • 開蓋測試
        • 丙酮測試
        • 刮擦測試
        • HCT測試
        • 切片測試
        • 電子顯微鏡分析
        • 電特性測試
        • FPGA開發(fā)
        • 單片機開發(fā)
        • 編程燒錄
        • 掃描電鏡SEM
        • 穿透電鏡TEM
        • 高低溫試驗
        • 冷熱沖擊
        • 快速溫變ESS
        • 溫度循環(huán)
        • ROHS檢測
        • 無鉛測試
        全國熱線

        4008-655-800

        CXOLab創(chuàng)芯在線檢測實驗室

        深圳市龍崗區(qū)吉華街道水徑社區(qū)吉華路393號英達豐工業(yè)園A棟2樓

        深圳市福田區(qū)華強北街道振華路深紡大廈C座3樓N307

        粵ICP備2023133780號    創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2025

        服務(wù)項目
        • IC真?zhèn)螜z測
        • DPA檢測
        • 失效分析
        • 開發(fā)及功能驗證
        • 材料分析
        • 可靠性驗證
        • 電磁兼容(EMC)
        • 化學分析
        應用領(lǐng)域
        • 5G通訊技術(shù)
        • 汽車電子
        • 軌道交通
        • 智慧醫(yī)療
        • 光電產(chǎn)業(yè)
        • 新能源
        案例標準
        • 測試案例
        • 檢測標準
        新聞動態(tài)
        • 企業(yè)新聞
        • 風險分析報告
        • 行業(yè)資訊
        • 資料下載
        • 常見問題
        關(guān)于創(chuàng)芯檢測
        • 企業(yè)狀況
        • 發(fā)展歷程
        • 榮譽資質(zhì)
        • 企業(yè)文化
        • 人才招聘
        • 聯(lián)系方式

        友情鏈接:

        粵ICP備2023133780號

        創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2025

        首頁

        報價申請

        電話咨詢

        QQ客服

        • QQ咨詢

          客服1咨詢 客服2咨詢 客服3咨詢 客服4咨詢 在線咨詢
        • 咨詢熱線

          咨詢熱線:

          0755-82719442
          0755-23483975

        • 官方微信

          歡迎關(guān)注官方微信

        • 意見反饋

        • TOP

        意見反饋

        為了能及時與您取得聯(lián)系,請留下您的聯(lián)系方式

        手機:
        郵箱:
        公司:
        聯(lián)系人:

        手機、郵箱任意一項必填,公司、聯(lián)系人選填

        報價申請
        檢測產(chǎn)品:
        聯(lián)系方式:
        項目概況:
        提示
        確定

        感谢您访问我们的网站,您可能还对以下资源感兴趣:

        中文弹幕日产无线码一区
        HEYZO少妇无码精品 中文弹幕日产无线码一区 97久久久精品综合88久久 欧美日韩一级AⅤ在线影院 婷婷综合缴情亚洲狠狠尤物
        1. <sup id="oxhvx"></sup><sup id="oxhvx"><optgroup id="oxhvx"></optgroup></sup>