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  • 服務(wù)項(xiàng)目
    IC真?zhèn)螜z測(cè)
    DPA檢測(cè)
    失效分析
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    可靠性驗(yàn)證
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    丙酮測(cè)試
    刮擦測(cè)試
    HCT測(cè)試
    開(kāi)蓋測(cè)試
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    外觀檢測(cè)
    X-Ray檢測(cè)
    功能檢測(cè)
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    密封
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    超聲波掃描(SAT檢測(cè))
    可焊性測(cè)試
    開(kāi)蓋測(cè)試
    鍵合強(qiáng)度
    芯片剪切強(qiáng)度
    結(jié)構(gòu)
    非破壞分析
    3D數(shù)碼顯微鏡
    X-Ray檢測(cè)
    超聲波掃描(SAT檢測(cè))
    電性檢測(cè)
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    開(kāi)蓋測(cè)試
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    芯片結(jié)構(gòu)分析
    新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)測(cè)試(FT)
    FPGA開(kāi)發(fā)
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    掃描式電子顯微鏡(SEM)
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    穿透式電子顯微鏡(TEM)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
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    光譜能量分析儀
    車載集成電路可靠性驗(yàn)證
    車電零部件可靠性驗(yàn)證(AEC)
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    芯片封裝完整性-封裝體完整性測(cè)試
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    給FPGA應(yīng)用加保險(xiǎn),功能測(cè)試很重要!
    給FPGA應(yīng)用加保險(xiǎn),功能測(cè)試很重要!

    近年來(lái),5G通信和人工智能的興起,F(xiàn)PGA有了更大范圍的應(yīng)用,創(chuàng)芯在線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室也時(shí)常接到這方面的送測(cè)樣品。在進(jìn)行了多個(gè)案例之后我們發(fā)現(xiàn),如果客戶能夠在上機(jī)之前對(duì)FPGA進(jìn)行功能測(cè)試,預(yù)先確認(rèn)狀態(tài)是否正常,那么到后期就能大幅減少繁瑣的排障工作。今天我們就來(lái)介紹一個(gè)FPGA功能測(cè)試的案例,簡(jiǎn)單幾步,就能確定器件是否處于正常狀態(tài)。

    2024-02-19 15:41:00
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    集成電路質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)之超聲波掃描顯微鏡檢測(cè)
    集成電路質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)之超聲波掃描顯微鏡檢測(cè)

    超聲波掃描顯微鏡,是繼上一篇提到的X射線檢測(cè)設(shè)備以外,另一種重要的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,它利用超聲波對(duì)微觀物體進(jìn)行成像。

    2024-01-16 17:28:22
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    集成電路質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)之X-ray檢測(cè)
    集成電路質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)之X-ray檢測(cè)

    集成電路是當(dāng)代科技的結(jié)晶,隨著工藝不斷更新迭代,集成電路的內(nèi)部結(jié)構(gòu)也在變得愈加復(fù)雜,隨之而來(lái)的就是一些不可避免的內(nèi)部結(jié)構(gòu)缺陷。這些缺陷可能在一般工況下并不影響集成電路的功能,但若處于高應(yīng)力、高溫等苛刻條件下,這些缺陷就會(huì)導(dǎo)致功能失效,危及整個(gè)系統(tǒng)。那么,在元器件正式應(yīng)用之前,通過(guò)無(wú)損檢測(cè)技術(shù),預(yù)先檢查其內(nèi)部結(jié)構(gòu),將風(fēng)險(xiǎn)杜絕在早期,就顯得至關(guān)重要。

    2024-01-15 17:04:36
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    慕尼黑華南電子展火熱開(kāi)幕,創(chuàng)芯檢測(cè)邀您共赴
    慕尼黑華南電子展火熱開(kāi)幕,創(chuàng)芯檢測(cè)邀您共赴

    10月30日,2023慕尼黑華南電子展(Electronica South China)在深圳會(huì)展中心(寶安新館)順利開(kāi)幕。展會(huì)覆蓋全產(chǎn)業(yè)鏈主題版塊,承襲歷屆經(jīng)典特色展區(qū),展示來(lái)自全球各地創(chuàng)新型優(yōu)質(zhì)企業(yè)、技術(shù)及產(chǎn)品方案,吸引廣大產(chǎn)業(yè)界人士蒞臨現(xiàn)場(chǎng)。

    2023-10-30 17:19:00
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    芯片一上機(jī)就失效?看我用這六個(gè)步驟,找出失效的真正原因
    芯片一上機(jī)就失效?看我用這六個(gè)步驟,找出失效的真正原因

    電子元器件在存儲(chǔ)、使用前并未做好保護(hù)措施或者是未規(guī)范處理時(shí)就會(huì)有可能對(duì)芯片造成靜電損傷,可能會(huì)影響芯片的使用壽命或者是造成內(nèi)部電路擊穿出現(xiàn)參數(shù)漂移等現(xiàn)象,嚴(yán)重的更會(huì)造成部分電路直接短路的情況。

    2023-09-28 17:06:00
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    聚焦細(xì)節(jié)丨運(yùn)用失效分析,找出生產(chǎn)問(wèn)題癥結(jié)所在
    聚焦細(xì)節(jié)丨運(yùn)用失效分析,找出生產(chǎn)問(wèn)題癥結(jié)所在

    電子元器件失效是指其功能完全或部分喪失、參數(shù)漂移,或間歇性出現(xiàn)上述情況。電子元器件分析是對(duì)已失效元器件進(jìn)行的一種事后檢查。根據(jù)需要,使用電測(cè)試及必要的物理、金相和化學(xué)分析技術(shù),驗(yàn)證所報(bào)告的失效,確認(rèn)其失效模式,找出失效機(jī)理。

    2023-09-21 17:26:00
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    硬核!元器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試竟如此簡(jiǎn)單!
    硬核!元器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試竟如此簡(jiǎn)單!

    近幾年,汽車領(lǐng)域發(fā)展的如火如荼 帶動(dòng)了國(guó)產(chǎn)分立元器件需求的增長(zhǎng) 汽車應(yīng)用中的高壓MOS、IGBT等 元器件的測(cè)試需求也隨之日益增加 為了滿足廣大客戶朋友們對(duì)元器件的檢測(cè)需求 給客戶持續(xù)提供高效的檢測(cè)服務(wù)

    2023-08-31 17:36:00
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    夏日酷暑季,真芯送福利

    夏日酷暑季,真芯送福利;活動(dòng)時(shí)間 2023年6月1日-2023年7月31日

    2023-06-08 16:33:27
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    重磅喜訊丨硬核升級(jí) 創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心成功獲得CMA資質(zhì)認(rèn)定證書

    篤行不怠展本色 踔厲奮發(fā)顯擔(dān)當(dāng)

    2023-03-20 09:03:00
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    創(chuàng)芯檢測(cè)香港實(shí)驗(yàn)室成立:不止幫您鑒真“芯”

    農(nóng)歷新年歸來(lái),創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心勇?lián)姑?,推?dòng)高質(zhì)量發(fā)展實(shí)現(xiàn)新跨越。經(jīng)過(guò)前期精心籌備,創(chuàng)芯檢測(cè)香港實(shí)驗(yàn)室“創(chuàng)芯在線國(guó)際技術(shù)有限公司”正式宣告成立。廣大香港地區(qū)客戶,自即日起也能同等享受到優(yōu)質(zhì)高效的芯片檢測(cè)服務(wù)。

    2023-02-09 10:25:00
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