服務(wù)項目
    IC真?zhèn)螜z測
    DPA檢測
    失效分析
    開發(fā)及功能驗證
    材料分析
    可靠性驗證
    電磁兼容(EMC)
    化學(xué)分析
    無損檢測
    標(biāo)簽檢測
    外觀檢測
    X-Ray檢測
    功能檢測
    破壞性檢測
    丙酮測試
    刮擦測試
    HCT測試
    開蓋測試
    增值服務(wù)
    烘烤
    編帶
    包裝與物流
    DPA檢測-三級
    外觀檢測
    X-Ray檢測
    功能檢測
    粒子碰撞噪聲檢測
    密封
    內(nèi)部水汽含量
    超聲波掃描(SAT檢測)
    可焊性測試
    開蓋測試
    鍵合強(qiáng)度
    芯片剪切強(qiáng)度
    結(jié)構(gòu)
    非破壞分析
    3D數(shù)碼顯微鏡
    X-Ray檢測
    超聲波掃描(SAT檢測)
    電性檢測
    半導(dǎo)體組件參數(shù)分析
    電特性測試
    點針信號量測
    靜電放電/過度電性應(yīng)力/閂鎖試驗
    失效點定位
    砷化鎵銦微光顯微鏡
    激光束電阻異常偵測
    Thermal EMMI(InSb)
    破壞性物理分析
    開蓋測試
    芯片去層
    切片測試
    物性分析
    剖面/晶背研磨
    離子束剖面研磨(CP)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
    工程樣品封裝服務(wù)
    晶圓劃片
    芯片打線/封裝
    競爭力分析
    芯片結(jié)構(gòu)分析
    新產(chǎn)品開發(fā)測試(FT)
    FPGA開發(fā)
    單片機(jī)開發(fā)
    測試電路板設(shè)計/制作
    關(guān)鍵功能測試
    分立元器件測試
    功能檢測
    編程燒錄
    芯片電路修改
    芯片電路修改/點針墊偵錯
    新型 WLCSP 電路修正技術(shù)
    結(jié)構(gòu)觀察
    穿透式電子顯微鏡(TEM)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
    雙束聚焦離子束
    成分分析
    穿透式電子顯微鏡(TEM)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
    光譜能量分析儀
    光譜能量分析儀
    車載集成電路可靠性驗證
    車電零部件可靠性驗證(AEC)
    板階 (BLR) 車電可靠性驗證
    車用系統(tǒng)/PCB可靠度驗證
    可靠度板階恒加速試驗
    間歇工作壽命試驗(IOL)
    可靠度外形尺寸試驗
    可靠度共面性試驗
    環(huán)境類試驗
    高低溫
    恒溫恒濕
    冷熱沖擊
    HALT試驗
    HASS試驗
    快速溫變
    溫度循環(huán)
    UV紫外老化
    氙燈老化
    水冷測試
    高空低氣壓
    交變濕熱
    機(jī)械類試驗
    拉力試驗
    芯片強(qiáng)度試驗
    高應(yīng)變率-振動試驗
    低應(yīng)變率-板彎/彎曲試驗
    高應(yīng)變率-機(jī)械沖擊試驗
    芯片封裝完整性-封裝打線強(qiáng)度試驗
    芯片封裝完整性-封裝體完整性測試
    三綜合(溫度、濕度、振動)
    四綜合(溫度、濕度、振動、高度)
    自由跌落
    紙箱抗壓
    腐蝕類試驗
    氣體腐蝕
    鹽霧
    臭氧老化
    耐試劑試驗
    IP防水/防塵試驗
    IP防水等級(IP00~IP69K)
    冰水沖擊
    浸水試驗
    JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測試
    IP防塵等級(IP00~IP69)
    電磁兼容(EMC)
    射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
    傳導(dǎo)干擾測試
    電磁輻射比吸收率測試
    電快速瞬變脈沖群抗擾度測試
    電壓閃爍測試
    電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度
    工頻磁場抗擾度測試
    諧波干擾測試
    靜電放電抗擾度測試
    浪涌(沖擊)抗擾度測試
    輻射干擾測試
    無線射頻測試
    高效液相色譜分析(HPLC)
    ROHS檢測
    裂解/氣相色譜/質(zhì)譜聯(lián)用分析(PY-GC-MS)
    REACH檢測
    電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析(ICP-OES)
    重金屬檢測
    無鉛測試
    阻燃性試驗
    阻燃性試驗
    應(yīng)用領(lǐng)域
    案例標(biāo)準(zhǔn)
    測試案例(報告形式)
    檢測標(biāo)準(zhǔn)
    IC真?zhèn)螜z測
    失效分析
    功能檢測
    開蓋檢測
    X-Ray檢測
    編程燒錄
    可焊性測試
    外觀檢測
    電特性測試
    切片檢測
    SAT檢測
    DPA檢測
    ROHS檢測
    溫度老化測試
    IGBT檢測
    AS6081標(biāo)準(zhǔn)
    AEC-Q100測試項目
    參考標(biāo)準(zhǔn)
    GJB 548標(biāo)準(zhǔn)
    新聞動態(tài)
    關(guān)于我們
    企業(yè)概括 發(fā)展歷程 榮譽資質(zhì) 企業(yè)文化 人才招聘 聯(lián)系方式
    會員登錄
    登錄 注冊
    EN
    ?公司新聞?
    ?風(fēng)險分析報告?
    ?行業(yè)資訊?
    ?資料下載?
    ?常見問題?
    元器件斜面沖擊檢測的目的
    元器件斜面沖擊檢測的目的

    隨著科技的不斷進(jìn)步,電子產(chǎn)品在我們的日常生活中扮演著越來越重要的角色。而這些電子產(chǎn)品中不可或缺的元器件,其質(zhì)量和可靠性顯然成為了制造商和消費者關(guān)注的焦點之一。在元器件生產(chǎn)過程中,斜面沖擊檢測作為一項重要的質(zhì)量控制程序,正逐漸成為了保障產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵一環(huán)。

    2024-06-19 10:34:26
    查看詳情
    連接器的插拔力測試的重要性
    連接器的插拔力測試的重要性

    連接器作為電子設(shè)備中至關(guān)重要的組成部分,其質(zhì)量和可靠性直接影響著整個設(shè)備的性能和穩(wěn)定性。連接器的插拔力測試是確保連接器質(zhì)量的重要環(huán)節(jié),通過對連接器插拔力進(jìn)行測試,可以有效評估連接器的耐久性和穩(wěn)定性,保障產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

    2024-06-19 10:34:17
    查看詳情
    元器件二次篩選的試驗方法和項目
    元器件二次篩選的試驗方法和項目

    電子元器件二次篩選是檢驗元器件批合格率、質(zhì)量一致性的重要手段。二次篩選可淘汰由于制造缺陷造成的早期失效產(chǎn)品,提高器件整批使用可靠性。篩選試驗的有效性為確定篩選試驗方法和篩選項目,可以依據(jù)以往產(chǎn)品篩選試驗數(shù)據(jù)的積累。

    2024-06-18 11:19:56
    查看詳情
    電子產(chǎn)品一般需要做哪些測試?
    電子產(chǎn)品一般需要做哪些測試?

    電子產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中需要進(jìn)行多種測試,以確保其質(zhì)量和性能符合標(biāo)準(zhǔn)。在確保電氣安全方面,耐壓測試、絕緣阻抗、接地阻抗/連續(xù)性,以及泄漏電流測試是安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)常見的測試項目。

    2024-06-18 11:19:44
    查看詳情
    全面了解EMC測試報告申請的關(guān)鍵細(xì)節(jié)
    全面了解EMC測試報告申請的關(guān)鍵細(xì)節(jié)

    在現(xiàn)代電子產(chǎn)品的設(shè)計和生產(chǎn)中,電磁兼容性(EMC)測試報告是至關(guān)重要的一環(huán)。為了確保產(chǎn)品在電磁環(huán)境中的正常運行并避免對其他設(shè)備造成干擾,申請者需要在申請EMC測試報告時注意一系列重要的細(xì)節(jié)。從檢測范圍、檢測項目、檢測標(biāo)準(zhǔn)、檢測要求,到資質(zhì)和認(rèn)證步驟,以下將全面介紹這些關(guān)鍵細(xì)節(jié)。

    2024-06-17 10:56:07
    查看詳情
    元器件裝配質(zhì)量控制與檢驗方法
    元器件裝配質(zhì)量控制與檢驗方法

    在現(xiàn)代制造業(yè)中,元器件裝配檢測方法是確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵步驟。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,制造商們對元器件裝配的精度和可靠性要求越來越高。本文將介紹一些常見的元器件裝配檢測方法,以及它們在提升產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率方面的重要作用。

    2024-06-17 10:56:03
    查看詳情
    溫度傳感器可靠性測試檢測標(biāo)準(zhǔn)
    溫度傳感器可靠性測試檢測標(biāo)準(zhǔn)

    在現(xiàn)代工業(yè)和科技應(yīng)用中,溫度傳感器扮演著至關(guān)重要的角色。無論是在汽車行業(yè)、醫(yī)療設(shè)備、電子產(chǎn)品還是工業(yè)自動化領(lǐng)域,溫度傳感器都是確保設(shè)備正常運行和產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵組成部分。為了確保溫度傳感器的可靠性和穩(wěn)定性,必須進(jìn)行嚴(yán)格的測試和檢測,以滿足各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)定。

    2024-06-14 10:26:10
    查看詳情
    排查電子元器件焊接裂紋的方法與技巧
    排查電子元器件焊接裂紋的方法與技巧

    在電子設(shè)備制造和維修過程中,焊接是一個至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。然而,有時焊接過程中可能會出現(xiàn)裂紋,這可能會導(dǎo)致設(shè)備的性能下降甚至故障。因此,及時排查和修復(fù)焊接裂紋對于確保設(shè)備的正常運行至關(guān)重要。本文將介紹如何排查電子元器件焊接裂紋的方法與技巧。

    2024-06-14 10:26:06
    查看詳情
    超聲波掃描(SAT&C-SAM)誤判因素全解析:可靠的檢測竟要注意這么多
    超聲波掃描(SAT&C-SAM)誤判因素全解析:可靠的檢測竟要注意這么多

    隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的飛速發(fā)展以及電子產(chǎn)品更新?lián)Q代的日益加快,作為電子系統(tǒng)核心組成部分的集成電路和分立器件,如今用量越來越大,隨之而來的質(zhì)量檢測需求也越來越多。其質(zhì)量和可靠性對于整個系統(tǒng)的性能至關(guān)重要。因此,對集成電路和分立器件進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的檢測成為電子制造業(yè)中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。超聲波掃描(SAT&C-SAM)作為一種非破壞性的檢測技術(shù),具有高靈敏度、高分辨率和實時成像等優(yōu)點,在集成電路和分立器件的封裝質(zhì)量檢測中得到了廣泛應(yīng)用。

    2024-06-13 14:12:18
    查看詳情
    EOS與ESD:都因電而起,如何區(qū)分和防范?案例告訴你
    EOS與ESD:都因電而起,如何區(qū)分和防范?案例告訴你

    EOS與ESD是兩類并不少見的電氣故障類型,且隨著芯片用量的日益增長,出現(xiàn)頻次也越來越多。這兩類故障都因“電”而起,有一定共同點,因而比較容易混淆。今天創(chuàng)芯檢測就帶大家來具體認(rèn)識這兩種故障類型,并結(jié)合案例,總結(jié)出防范的辦法。

    2024-06-13 14:06:23
    查看詳情
    1 2 … 13 14 15 16 17 … 158 159
    熱門文章
    UV測試是什么?UV測試通用檢測標(biāo)準(zhǔn)及流程 什么是電氣性能?電氣性能測試包括什么? 溫升測試(Temperature rise test)-電性能測試 芯片開蓋(Decap)檢測的有效方法及全過程細(xì)節(jié) 焊縫檢測探傷一級二級三級標(biāo)準(zhǔn)是多少? CNAS認(rèn)證是什么?實驗室進(jìn)行CNAS認(rèn)可的目的及意義 芯片切片分析是什么?如何進(jìn)行切片分析試驗? 什么是IC測試?實現(xiàn)芯片測試的解決方法介紹 芯片發(fā)熱是不是芯片壞了?在多少溫度下會損壞
    熱門標(biāo)簽
    • IC真?zhèn)螜z測
    • DPA檢測
    • 失效分析
    • 開發(fā)及功能驗證
    • 材料分析
    • 可靠性驗證
    • 化學(xué)分析
    • 外觀檢測
    • X-Ray檢測
    • 功能檢測
    • SAT檢測
    • 可焊性測試
    • 開蓋測試
    • 丙酮測試
    • 刮擦測試
    • HCT測試
    • 切片測試
    • 電子顯微鏡分析
    • 電特性測試
    • FPGA開發(fā)
    • 單片機(jī)開發(fā)
    • 編程燒錄
    • 掃描電鏡SEM
    • 穿透電鏡TEM
    • 高低溫試驗
    • 冷熱沖擊
    • 快速溫變ESS
    • 溫度循環(huán)
    • ROHS檢測
    • 無鉛測試
    全國熱線

    4008-655-800

    CXOLab創(chuàng)芯在線檢測實驗室

    深圳市龍崗區(qū)吉華街道水徑社區(qū)吉華路393號英達(dá)豐工業(yè)園A棟2樓

    深圳市福田區(qū)華強(qiáng)北街道振華路深紡大廈C座3樓N307

    粵ICP備2023133780號    創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2025

    服務(wù)項目
    • IC真?zhèn)螜z測
    • DPA檢測
    • 失效分析
    • 開發(fā)及功能驗證
    • 材料分析
    • 可靠性驗證
    • 電磁兼容(EMC)
    • 化學(xué)分析
    應(yīng)用領(lǐng)域
    • 5G通訊技術(shù)
    • 汽車電子
    • 軌道交通
    • 智慧醫(yī)療
    • 光電產(chǎn)業(yè)
    • 新能源
    案例標(biāo)準(zhǔn)
    • 測試案例
    • 檢測標(biāo)準(zhǔn)
    新聞動態(tài)
    • 企業(yè)新聞
    • 風(fēng)險分析報告
    • 行業(yè)資訊
    • 資料下載
    • 常見問題
    關(guān)于創(chuàng)芯檢測
    • 企業(yè)狀況
    • 發(fā)展歷程
    • 榮譽資質(zhì)
    • 企業(yè)文化
    • 人才招聘
    • 聯(lián)系方式

    友情鏈接:

    粵ICP備2023133780號

    創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2025

    首頁

    報價申請

    電話咨詢

    QQ客服

    • QQ咨詢

      客服1咨詢 客服2咨詢 客服3咨詢 客服4咨詢 在線咨詢
    • 咨詢熱線

      咨詢熱線:

      0755-82719442
      0755-23483975

    • 官方微信

      歡迎關(guān)注官方微信

    • 意見反饋

    • TOP

    意見反饋

    為了能及時與您取得聯(lián)系,請留下您的聯(lián)系方式

    手機(jī):
    郵箱:
    公司:
    聯(lián)系人:

    手機(jī)、郵箱任意一項必填,公司、聯(lián)系人選填

    報價申請
    檢測產(chǎn)品:
    聯(lián)系方式:
    項目概況:
    提示
    確定

    感谢您访问我们的网站,您可能还对以下资源感兴趣:

    中文弹幕日产无线码一区
    HEYZO少妇无码精品 中文弹幕日产无线码一区 97久久久精品综合88久久 欧美日韩一级AⅤ在线影院 婷婷综合缴情亚洲狠狠尤物
    <strong id="xgwhi"></strong>
    • <nobr id="xgwhi"><pre id="xgwhi"><tr id="xgwhi"></tr></pre></nobr>
      <kbd id="xgwhi"><pre id="xgwhi"></pre></kbd>
      <noscript id="xgwhi"></noscript>