服務(wù)項(xiàng)目
    IC真?zhèn)螜z測(cè)
    DPA檢測(cè)
    失效分析
    開發(fā)及功能驗(yàn)證
    材料分析
    可靠性驗(yàn)證
    電磁兼容(EMC)
    化學(xué)分析
    無損檢測(cè)
    標(biāo)簽檢測(cè)
    外觀檢測(cè)
    X-Ray檢測(cè)
    功能檢測(cè)
    破壞性檢測(cè)
    丙酮測(cè)試
    刮擦測(cè)試
    HCT測(cè)試
    開蓋測(cè)試
    增值服務(wù)
    烘烤
    編帶
    包裝與物流
    DPA檢測(cè)-三級(jí)
    外觀檢測(cè)
    X-Ray檢測(cè)
    功能檢測(cè)
    粒子碰撞噪聲檢測(cè)
    密封
    內(nèi)部水汽含量
    超聲波掃描(SAT檢測(cè))
    可焊性測(cè)試
    開蓋測(cè)試
    鍵合強(qiáng)度
    芯片剪切強(qiáng)度
    結(jié)構(gòu)
    非破壞分析
    3D數(shù)碼顯微鏡
    X-Ray檢測(cè)
    超聲波掃描(SAT檢測(cè))
    電性檢測(cè)
    半導(dǎo)體組件參數(shù)分析
    電特性測(cè)試
    點(diǎn)針信號(hào)量測(cè)
    靜電放電/過度電性應(yīng)力/閂鎖試驗(yàn)
    失效點(diǎn)定位
    砷化鎵銦微光顯微鏡
    激光束電阻異常偵測(cè)
    Thermal EMMI(InSb)
    破壞性物理分析
    開蓋測(cè)試
    芯片去層
    切片測(cè)試
    物性分析
    剖面/晶背研磨
    離子束剖面研磨(CP)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
    工程樣品封裝服務(wù)
    晶圓劃片
    芯片打線/封裝
    競(jìng)爭(zhēng)力分析
    芯片結(jié)構(gòu)分析
    新產(chǎn)品開發(fā)測(cè)試(FT)
    FPGA開發(fā)
    單片機(jī)開發(fā)
    測(cè)試電路板設(shè)計(jì)/制作
    關(guān)鍵功能測(cè)試
    分立元器件測(cè)試
    功能檢測(cè)
    編程燒錄
    芯片電路修改
    芯片電路修改/點(diǎn)針墊偵錯(cuò)
    新型 WLCSP 電路修正技術(shù)
    結(jié)構(gòu)觀察
    穿透式電子顯微鏡(TEM)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
    雙束聚焦離子束
    成分分析
    穿透式電子顯微鏡(TEM)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
    光譜能量分析儀
    光譜能量分析儀
    車載集成電路可靠性驗(yàn)證
    車電零部件可靠性驗(yàn)證(AEC)
    板階 (BLR) 車電可靠性驗(yàn)證
    車用系統(tǒng)/PCB可靠度驗(yàn)證
    可靠度板階恒加速試驗(yàn)
    間歇工作壽命試驗(yàn)(IOL)
    可靠度外形尺寸試驗(yàn)
    可靠度共面性試驗(yàn)
    環(huán)境類試驗(yàn)
    高低溫
    恒溫恒濕
    冷熱沖擊
    HALT試驗(yàn)
    HASS試驗(yàn)
    快速溫變
    溫度循環(huán)
    UV紫外老化
    氙燈老化
    水冷測(cè)試
    高空低氣壓
    交變濕熱
    機(jī)械類試驗(yàn)
    拉力試驗(yàn)
    芯片強(qiáng)度試驗(yàn)
    高應(yīng)變率-振動(dòng)試驗(yàn)
    低應(yīng)變率-板彎/彎曲試驗(yàn)
    高應(yīng)變率-機(jī)械沖擊試驗(yàn)
    芯片封裝完整性-封裝打線強(qiáng)度試驗(yàn)
    芯片封裝完整性-封裝體完整性測(cè)試
    三綜合(溫度、濕度、振動(dòng))
    四綜合(溫度、濕度、振動(dòng)、高度)
    自由跌落
    紙箱抗壓
    腐蝕類試驗(yàn)
    氣體腐蝕
    鹽霧
    臭氧老化
    耐試劑試驗(yàn)
    IP防水/防塵試驗(yàn)
    IP防水等級(jí)(IP00~IP69K)
    冰水沖擊
    浸水試驗(yàn)
    JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測(cè)試
    IP防塵等級(jí)(IP00~IP69)
    電磁兼容(EMC)
    射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
    傳導(dǎo)干擾測(cè)試
    電磁輻射比吸收率測(cè)試
    電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試
    電壓閃爍測(cè)試
    電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度
    工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
    諧波干擾測(cè)試
    靜電放電抗擾度測(cè)試
    浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試
    輻射干擾測(cè)試
    無線射頻測(cè)試
    高效液相色譜分析(HPLC)
    ROHS檢測(cè)
    裂解/氣相色譜/質(zhì)譜聯(lián)用分析(PY-GC-MS)
    REACH檢測(cè)
    電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析(ICP-OES)
    重金屬檢測(cè)
    無鉛測(cè)試
    阻燃性試驗(yàn)
    阻燃性試驗(yàn)
    應(yīng)用領(lǐng)域
    案例標(biāo)準(zhǔn)
    測(cè)試案例(報(bào)告形式)
    檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
    IC真?zhèn)螜z測(cè)
    失效分析
    功能檢測(cè)
    開蓋檢測(cè)
    X-Ray檢測(cè)
    編程燒錄
    可焊性測(cè)試
    外觀檢測(cè)
    電特性測(cè)試
    切片檢測(cè)
    SAT檢測(cè)
    DPA檢測(cè)
    ROHS檢測(cè)
    溫度老化測(cè)試
    IGBT檢測(cè)
    AS6081標(biāo)準(zhǔn)
    AEC-Q100測(cè)試項(xiàng)目
    參考標(biāo)準(zhǔn)
    GJB 548標(biāo)準(zhǔn)
    新聞動(dòng)態(tài)
    關(guān)于我們
    企業(yè)概括 發(fā)展歷程 榮譽(yù)資質(zhì) 企業(yè)文化 人才招聘 聯(lián)系方式
    會(huì)員登錄
    登錄 注冊(cè)
    EN
    ?公司新聞?
    ?風(fēng)險(xiǎn)分析報(bào)告?
    ?行業(yè)資訊?
    ?資料下載?
    ?常見問題?
    二極管.jpg
    二極管用萬用表測(cè)量好壞的方式有哪些?

    使用萬用表測(cè)量二極管的好壞是一個(gè)簡(jiǎn)單而有效的方法。以下是具體步驟:

    2024-09-18 15:00:00
    查看詳情
    元器件.jpg
    元器件的可靠性測(cè)試中DPA和FA各自的定義和作用是什么?

    在電子元器件的可靠性測(cè)試中,DPA(Design and Process Audit)和FA(Failure Analysis)是兩種重要的分析和測(cè)試方法。它們各自的定義和作用如下:

    2024-09-18 14:00:00
    查看詳情
    電子元器件.jpg
    低氣壓對(duì)電子元器件性能的影響及其相關(guān)的可靠性測(cè)試方法

    低氣壓對(duì)產(chǎn)品性能的影響,尤其是在電子元器件的可靠性測(cè)試中,是一個(gè)重要的研究領(lǐng)域。以下是低氣壓對(duì)電子元器件性能的影響及其相關(guān)的可靠性測(cè)試方法。

    2024-09-14 15:00:00
    查看詳情
    電子元器件.webp
    電子元器件常見的失效原因及檢測(cè)方法有哪些?

    電子元器件的失效可能由多種因素引起,了解這些原因及相應(yīng)的檢測(cè)方法對(duì)于提高產(chǎn)品的可靠性和性能至關(guān)重要。以下是常見的失效原因及檢測(cè)方法。

    2024-09-14 14:00:00
    查看詳情
    耐焊接熱.jpg
    耐焊接熱的技術(shù)要求及相關(guān)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)有哪些?

    耐焊接熱技術(shù)要求及試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)是確保材料在焊接過程中能夠承受高溫和熱影響區(qū)應(yīng)力的重要指標(biāo)。焊接熱影響會(huì)導(dǎo)致材料性能的變化,因此需要進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試和評(píng)估。以下是耐焊接熱的技術(shù)要求及相關(guān)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

    2024-09-13 15:00:00
    查看詳情
    冷熱沖擊箱.jpg
    冷熱沖擊箱的使用及保養(yǎng)方法有哪些?

    冷熱沖擊箱是一種用于測(cè)試材料和產(chǎn)品在極端溫度變化下的性能的設(shè)備。它可以模擬快速溫度變化對(duì)材料的影響,廣泛應(yīng)用于電子、航空航天、汽車、塑料等行業(yè)。以下是冷熱沖擊箱的使用及保養(yǎng)方法。

    2024-09-13 14:00:00
    查看詳情
    材料性能測(cè)試.webp
    材料性能測(cè)試的重要性及其應(yīng)用有哪些?

    材料性能測(cè)試在工程、制造和科學(xué)研究中具有重要意義。以下是材料性能測(cè)試的重要性及其應(yīng)用:

    2024-09-12 14:30:00
    查看詳情
    機(jī)械沖擊和振動(dòng).webp
    機(jī)械沖擊和振動(dòng)的主要區(qū)別

    機(jī)械沖擊和振動(dòng)是兩種不同的物理現(xiàn)象,它們?cè)谔卣鳌⒊梢蚝陀绊懙确矫娲嬖陲@著差異。以下是它們的主要區(qū)別:

    2024-09-12 14:00:00
    查看詳情
    機(jī)械沖擊波.jpg
    機(jī)械沖擊波形主要有哪幾種類型?

    機(jī)械沖擊波是指在材料或結(jié)構(gòu)中由于突然施加的力或能量釋放而產(chǎn)生的波動(dòng)現(xiàn)象。根據(jù)沖擊波的特性和傳播方式,機(jī)械沖擊波可以分為以下幾種類型:

    2024-09-11 15:00:00
    查看詳情
    元器件.jpg
    元器件需要進(jìn)行DPA檢測(cè)的情況有哪些?

    元器件的DPA(Destructive Physical Analysis,破壞性物理分析)檢測(cè)是一種深入分析和評(píng)估電子元器件性能、可靠性和失效原因的方法。以下是一些需要進(jìn)行DPA檢測(cè)的情況:

    2024-09-11 14:00:00
    查看詳情
    1 2 3 4 5 6 … 158 159
    熱門文章
    UV測(cè)試是什么?UV測(cè)試通用檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及流程 什么是電氣性能?電氣性能測(cè)試包括什么? 溫升測(cè)試(Temperature rise test)-電性能測(cè)試 芯片開蓋(Decap)檢測(cè)的有效方法及全過程細(xì)節(jié) 焊縫檢測(cè)探傷一級(jí)二級(jí)三級(jí)標(biāo)準(zhǔn)是多少? CNAS認(rèn)證是什么?實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行CNAS認(rèn)可的目的及意義 芯片切片分析是什么?如何進(jìn)行切片分析試驗(yàn)? 什么是IC測(cè)試?實(shí)現(xiàn)芯片測(cè)試的解決方法介紹 芯片發(fā)熱是不是芯片壞了?在多少溫度下會(huì)損壞
    熱門標(biāo)簽
    • IC真?zhèn)螜z測(cè)
    • DPA檢測(cè)
    • 失效分析
    • 開發(fā)及功能驗(yàn)證
    • 材料分析
    • 可靠性驗(yàn)證
    • 化學(xué)分析
    • 外觀檢測(cè)
    • X-Ray檢測(cè)
    • 功能檢測(cè)
    • SAT檢測(cè)
    • 可焊性測(cè)試
    • 開蓋測(cè)試
    • 丙酮測(cè)試
    • 刮擦測(cè)試
    • HCT測(cè)試
    • 切片測(cè)試
    • 電子顯微鏡分析
    • 電特性測(cè)試
    • FPGA開發(fā)
    • 單片機(jī)開發(fā)
    • 編程燒錄
    • 掃描電鏡SEM
    • 穿透電鏡TEM
    • 高低溫試驗(yàn)
    • 冷熱沖擊
    • 快速溫變ESS
    • 溫度循環(huán)
    • ROHS檢測(cè)
    • 無鉛測(cè)試
    全國熱線

    4008-655-800

    CXOLab創(chuàng)芯在線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

    深圳市龍崗區(qū)吉華街道水徑社區(qū)吉華路393號(hào)英達(dá)豐工業(yè)園A棟2樓

    深圳市福田區(qū)華強(qiáng)北街道振華路深紡大廈C座3樓N307

    粵ICP備2023133780號(hào)    創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2025

    服務(wù)項(xiàng)目
    • IC真?zhèn)螜z測(cè)
    • DPA檢測(cè)
    • 失效分析
    • 開發(fā)及功能驗(yàn)證
    • 材料分析
    • 可靠性驗(yàn)證
    • 電磁兼容(EMC)
    • 化學(xué)分析
    應(yīng)用領(lǐng)域
    • 5G通訊技術(shù)
    • 汽車電子
    • 軌道交通
    • 智慧醫(yī)療
    • 光電產(chǎn)業(yè)
    • 新能源
    案例標(biāo)準(zhǔn)
    • 測(cè)試案例
    • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
    新聞動(dòng)態(tài)
    • 企業(yè)新聞
    • 風(fēng)險(xiǎn)分析報(bào)告
    • 行業(yè)資訊
    • 資料下載
    • 常見問題
    關(guān)于創(chuàng)芯檢測(cè)
    • 企業(yè)狀況
    • 發(fā)展歷程
    • 榮譽(yù)資質(zhì)
    • 企業(yè)文化
    • 人才招聘
    • 聯(lián)系方式

    友情鏈接:

    粵ICP備2023133780號(hào)

    創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2025

    首頁

    報(bào)價(jià)申請(qǐng)

    電話咨詢

    QQ客服

    • QQ咨詢

      客服1咨詢 客服2咨詢 客服3咨詢 客服4咨詢 在線咨詢
    • 咨詢熱線

      咨詢熱線:

      0755-82719442
      0755-23483975

    • 官方微信

      歡迎關(guān)注官方微信

    • 意見反饋

    • TOP

    意見反饋

    為了能及時(shí)與您取得聯(lián)系,請(qǐng)留下您的聯(lián)系方式

    手機(jī):
    郵箱:
    公司:
    聯(lián)系人:

    手機(jī)、郵箱任意一項(xiàng)必填,公司、聯(lián)系人選填

    報(bào)價(jià)申請(qǐng)
    檢測(cè)產(chǎn)品:
    聯(lián)系方式:
    項(xiàng)目概況:
    提示
    確定

    感谢您访问我们的网站,您可能还对以下资源感兴趣:

    中文弹幕日产无线码一区
    HEYZO少妇无码精品 中文弹幕日产无线码一区 97久久久精品综合88久久 欧美日韩一级AⅤ在线影院 婷婷综合缴情亚洲狠狠尤物