電子信息技術是當今新技術革命的核心,電子元器件是發(fā)展電子信息技術的基礎。了解造成元器件失效的因素,以提高可靠性,是電子信息技術應用的必要保證。電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數漂移、非穩(wěn)定失效等。為了促進電子信息技術的進一步發(fā)展,就要提高電子元器件的可靠性,所以就必須了解電子元器件失效的機理、模式以及分析技術等。


在全球芯片短缺之前,“假芯片”的問題一直存在,只不過人們并沒有過多關注。事實上,這也不是是第一次因為芯片的供應鏈中斷,而引發(fā)起大量假冒產品的現象。最近有媒體報道稱,國內最大的電子市場存在假芯片、翻新芯片等問題,原因在于國內對芯片的需求強烈,一些無良商家借此炒作,坑害了廠家和消費者,這凸顯了國內市場對芯片需求的迫切需求。


作為電子信息產業(yè)鏈上游產品,電子元器件是通信、計算機及網絡、數字音視頻等系統(tǒng)和終端產品發(fā)展的基礎,電子元器件是否可靠地工作決定著電子設備的運行是否正常。電子元器件外觀缺陷檢測是非常關鍵的一環(huán),由于此類產品一般比較小,對質量的要求又高,很難通過人工大批量檢測,需要利用電子元器件視覺檢測設備來進行外觀缺陷自動化檢測。


電子產品外觀是管控質量重要的因素之一,隨著信息技術的高速發(fā)展,電子元器件在我國需求量逐漸增大?,F在電子元器件也逐漸向薄型化、智能化、集成化、微型化的趨勢發(fā)展,有無瑕疵缺陷不僅影響到產品美觀,有的甚至直接影響產品本身的的使用和后續(xù)加工,給企業(yè)帶來重大的經濟損失。


根據歐盟頒布的RoHS法規(guī),電子元器件中六項有害物質鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯醚、多溴聯苯的限值不得超過1000ppm,其中鎘的限值是100ppm,符合這些要求的就屬于環(huán)保產品。評定的話就需要第三檢測機構出具的RoHS檢測報告了。RoHS是歐盟法律制定的強制性標準,全名為《關于限制使用電子電器設備中某些有害成分的指令》(RestrictionofHazardousSubstances)。本標準于2006年7月1日正式實施,主要用來規(guī)范電子、電氣產品的材料和工藝標準,使之更符合人體健康和環(huán)保要求


隨著科學技術經濟貿易的迅猛發(fā)展,自然資源海洋宇宙開發(fā)與利用,各種產品在貯存、運輸和使用過程中遇到的環(huán)境越來越復雜,越來越嚴酷。從熱帶到寒帶,從平原到高原,從海洋到太空等等,這就使得用戶和生產者雙方都關心產品在上述環(huán)境中得性能、可靠性和安全性,以保證產品能滿意地工作,這就必須要進行環(huán)境試驗。


1996年發(fā)布的質量管理和質量保證國家軍用系列標準(GJB/Z9001-9004-96),是根據《軍工產品質量管理條例》(簡稱《條例》)的要求,在相應的質量管理和質量保證國家標準(GB/T19001-GB/T19004-1994)的基礎上,增加軍用產品的特殊要求編制的。我國軍用標準主要分三類:軍用規(guī)范、軍用標準、指導性技術文件。


軍標即為軍用標準,例如我國軍標全稱為中華人民共和國國家軍用標準,是指設備符合軍用規(guī)格或軍事用途的標準和規(guī)范,性質如同國標,是測試某樣產品是否合格或達到固定的規(guī)格要求的一個依據。軍用系列標準的發(fā)布和實施,推動了軍工產品質量管理體系建設的迅速發(fā)展,促進了軍用產品質量與可靠性水平的提高。為幫助大家深入了解,本文將對軍用產品環(huán)境試驗與可靠性試驗項目標準的相關知識予以匯總。如果您對本文即將要涉及的內容感興趣的話,那就繼續(xù)往下閱讀吧。


MIL-STD-810為美國國防部(DoD)針對軍用產品所設計的一系列環(huán)境測試標準,檢測軍用產品在一定的生命周期內,在多項模擬嚴苛環(huán)境之下的可靠性及耐用性。此標準也常被用在一般消費性電子產品,以確保在極端環(huán)境中能承受考驗,并保持相同的性能。美軍標MIL-STD-810G認證檢測美軍標MIL-STD-810G并不是指的某個測試項目,其中我國軍用裝備環(huán)境試驗標準GJB150A就是根據美軍標MIL-STD-810G為基礎改編而來,它涵蓋了氣候環(huán)境、機械環(huán)境等可靠性測試,比較其他如常見的電子設備環(huán)境試驗


切片是用特制液態(tài)樹脂將樣品包裹固封,然后進行研磨拋光的一種制樣方法,檢測流程包括取樣、固封、研磨、拋光、最后提供形貌照片、開裂分層大小判斷或尺寸等數據。切片技術,又名切片或金相切片、微切片(英文名: Cross-section,X-section ),是一種觀察樣品截面結構情況最常用的制樣分析手段。

