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    可靠性測試:正弦振動測試常用標準
    正弦振動試驗是什么?正弦振動檢測相關標準

    正弦振動試驗是一種機械運動的力學環(huán)境試驗方法,模擬產(chǎn)品在運輸、儲存、使用過程中所能經(jīng)受的正弦振動及其影響,從而驗證產(chǎn)品的適應性及可靠性等。在航空、航天、車輛、船舶、汽車和電氣電子等行業(yè),這是一種常用的最基本方法,一般的振動試驗室都可以實施進行。

    2021-07-27 16:12:00
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    可靠性測試:正弦振動試驗方法及影響
    可靠性測試:正弦振動試驗方法及影響

    振動試驗主要是環(huán)境模擬,試驗參數(shù)為頻率范圍、振動幅值和試驗持續(xù)時間。振動對產(chǎn)品的影響有:結構損壞,如結構變形、產(chǎn)品裂紋或斷裂;產(chǎn)品功能失效或性能超差,如接觸不良、繼電器誤動作等,這種破壞不屬于永久性破壞,因為一旦振動減小或停止,工作就能恢復正常;工藝性破壞,如螺釘或連接件松動、脫焊。從振動試驗技術發(fā)展趨勢看,將采用多點控制技術、多臺聯(lián)合激動技術。

    2021-07-27 16:07:00
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    濕熱試驗是什么?濕熱試驗的檢測標準及報告
    濕熱試驗是什么?濕熱試驗的檢測標準及報告

    濕熱試驗是指在高溫高濕條件下評定防銹油脂對金屬防銹性能的實驗。GB/T 2423.3-2006/IEC60068-2-78:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗本試驗標準主要適用于確定電工電子產(chǎn)品,元件或設備在高濕度的條件下使用,貯存和運輸時的適應性。

    2021-07-27 15:41:00
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    可焊性測試:影響可焊性的主要因素和參考標準
    可靠性測試:影響可焊性的主要因素和參考標準

    可焊性測試,英文是“Solderability”。指通過潤濕平衡法(wettingbalance)這一原理對元器件、PCB板、PAD、焊料和助焊劑等的可焊接性能做一定性和定量的評估。對現(xiàn)代電子工業(yè)的1級(IC封裝)和2級(電子元器件組裝到印刷線路板)的工藝都需要高質量的互通連接技術,以及高質量和零缺陷的焊接工藝有極大的幫助。

    2021-07-27 15:35:00
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    image
    電磁繼電器失效,如何進行故障排查及處理?

    最近,創(chuàng)新檢測接到一批故障繼電器,據(jù)客戶描述,這批繼電器在車間調試過程中有的不工作, 不良率在10%。故障繼電器的外觀如下圖,屬于松下品牌,型號為JW1FSN-DC12V AJW4211,屬于市面常見、廣泛流通的電磁繼電器產(chǎn)品。電磁繼電器失效,如何進行故障排查及處理? 最近,創(chuàng)新檢測接到一批故障繼電器,據(jù)客戶描述,這批繼電器在車間調試過程中有的不工作, 不良率在10%。故障繼電器的外觀如下圖,屬于松下品牌,型號為JW1FSN-DC12V AJW4211,屬于市面常見、廣泛流通的電磁繼電器產(chǎn)品。

    2021-07-27 09:38:00
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    電子產(chǎn)品可靠性測試規(guī)范標準 專業(yè)檢測機構推薦
    電子產(chǎn)品可靠性測試規(guī)范標準 專業(yè)檢測機構推薦

    一般來說為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗,通過可靠性試驗,可以確定電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下工作或存儲時的可靠性特征量,為使用、生產(chǎn)和設計提供有用的數(shù)據(jù);也可以暴露產(chǎn)品在設計、原材料和工藝流程等方面存在的問題。

    2021-07-26 17:06:21
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    電工電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測試檢驗標準大全
    電工電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測試檢驗標準大全

    1、低溫試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫GB/T2423.1-2008,IEC60068-2-1:2007 2、高溫試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫GB/T2423.2-2008 ,IEC60068-2-2:2007

    2021-07-26 16:10:00
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    詳細介紹高低溫交變濕熱試驗箱的要求標準及注意事項
    詳細介紹高低溫交變濕熱試驗箱的要求標準及注意事項

    高低溫交變濕熱試驗箱的使用環(huán)境條件如下: 1、溫度:15℃~35℃ 2、相對濕度:不大于85%RH 3、附近無強烈振動、無強烈電磁場影響 4、附近無高濃度粉塵及侵蝕性物質 5、無陽光直接照射或其它熱源直接輻射 6、附近無強烈氣流,當附近空氣需要強制流 時,氣流不應直接吹到箱體上。

    2021-07-26 16:02:00
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    創(chuàng)芯檢測中心
    電子產(chǎn)品低溫測試: 元器件通常在低溫多久失效?

    低溫測試介紹: GB/T 2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫試驗 本標準所涉及的低溫試驗適用于非散熱和散熱里兩類試驗樣品.本標準僅限于用來考核確定電工,電子產(chǎn)品(包括元件,設備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的環(huán)境適應性。

    2021-07-26 13:46:00
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    高低溫測試怎么做?產(chǎn)品高低溫測試標準
    高低溫測試怎么做?產(chǎn)品高低溫測試標準

    芯片在出廠前需要進行環(huán)境測試,模擬芯片在氣候環(huán)境下操作及儲存的適應性,已確保其在極端環(huán)境下也可正常工作。高低溫測試是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應性的方法。試驗的嚴苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。

    2021-07-26 11:35:00
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