(1)根據(jù)材料斷裂前所產(chǎn)生的宏觀變形量大小，將斷裂分為韌性斷裂和脆斷裂。(2)韌性斷裂是斷裂前發(fā)生明顯宏觀塑性變形。而脆性斷裂是斷裂前不發(fā)生塑性變形，斷裂后其斷口齊平，由無數(shù)發(fā)亮的小平面組成。

2021-09-18 14:50:59

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隨著科技進(jìn)步，智能化產(chǎn)品與日俱增。從電腦、智能手機(jī)，再到汽車電子、人工智能，如今在我們的生產(chǎn)生活中已隨處可見。它們之所以能夠得以發(fā)展，驅(qū)動內(nèi)部收發(fā)信號的半導(dǎo)體芯片是關(guān)鍵。由于對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計人員找到設(shè)計上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。接下來看看芯片IC失效分析測試。

2021-09-17 17:47:20

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集成電路失效分析在提高集成電路的可靠性方面有著至關(guān)重要的作用，對集成電路進(jìn)行失效分析可以促進(jìn)企業(yè)糾正設(shè)計、實驗和生產(chǎn)過程中的問題，實施控制和改進(jìn)措施，防止和減少同樣的失效模式和失效機(jī)理重復(fù)出現(xiàn)，預(yù)防同類失效現(xiàn)象再次發(fā)生。本文主要講述集成電路失效分析的技術(shù)和步驟。

2021-09-09 15:36:36

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在電子元器件的研制階段，失效分析可糾正設(shè)計和研制中的錯誤，縮短研制周期；在電子元器件的生產(chǎn)、測試和使用階段，失效分析可找出電子元器件的失效原因和引起電子元器件失效的責(zé)任方。根據(jù)失效分析的結(jié)果，元器件生產(chǎn)廠改進(jìn)元器件的設(shè)計和生產(chǎn)工藝，元器件使用方改進(jìn)電路板設(shè)計，改進(jìn)元器件或整機(jī)的測試、試驗條件及程序，甚至以此為根據(jù)更換不合格的元器件供貨商。因而，失效分析對加快電子元器件的研制速度，提高元器件和整機(jī)的成品率和可靠性有重要意義。

2021-09-09 14:55:39

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失效分析(FA)是一門發(fā)展中的新學(xué)科，近年來從軍工向普通企業(yè)普及。一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析驗證，模擬失效現(xiàn)象，找出失效原因，挖掘失效機(jī)制的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量、技術(shù)開發(fā)、改進(jìn)、產(chǎn)品修復(fù)、仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的現(xiàn)實意義。其方法分為損傷分析、損傷分析、物理分析、化學(xué)分析等。

2021-09-09 14:48:00

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在進(jìn)行失效分析之前，需要根據(jù)失效產(chǎn)品及其失效背景，縮小懷疑范圍，初步判斷產(chǎn)品可能的失效現(xiàn)象，選擇合適的分析技術(shù)與設(shè)備，遵循先簡單后復(fù)雜，從外到內(nèi)，先面后點，從非破壞性到破壞性的原則，明確分析順序，制定有針對性的分析方案，降低失效分析成本，加快失效分析進(jìn)度，提高失效分析成功率。對各種可能的原因準(zhǔn)備相應(yīng)的處理措施。

2021-09-09 13:26:00

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不同類型材料失效分析檢測方法： 1 PCB/PCBA失效分析 PCB作為各種元器件的載體與電路信號傳輸?shù)臉屑~已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分，其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。

2021-09-09 13:16:00

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一般把電子元器件的故障都稱謂失效，知曉元器件的失效模式和失效機(jī)理以及設(shè)備故障的機(jī)理對于診斷設(shè)備故障，保持設(shè)備固有的可靠性是十分重要的事情。元器件失效分析的目的不僅在于判斷失效性質(zhì)和明確失效原因，更重要的還在于為積極預(yù)防重復(fù)失效找到有效途徑。下面就一起來看看元器件檢測方法及失效分析主要步驟介紹。

2021-09-08 15:40:00

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失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動。失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析為設(shè)計工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計，使之與設(shè)計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。失效分析可以評估不同測試向量的有效性，為生產(chǎn)測試提供必要的補(bǔ)充，為驗證測試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ)。

2021-09-08 15:16:32

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電子元器件產(chǎn)業(yè)作為電子信息產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)力量, 更是新時代發(fā)展革新的重點。中國電子元器件的發(fā)展過程是從淺到深、從少到多, 直到累積一定程度, 才獲取優(yōu)異成績。據(jù)統(tǒng)計, 當(dāng)前我國電子元器件行業(yè)總產(chǎn)值大約占據(jù)電子信息產(chǎn)業(yè)的百分之二十,電子元器件產(chǎn)業(yè)也成為引導(dǎo)我國電子信息產(chǎn)業(yè)持續(xù)發(fā)展的基礎(chǔ)內(nèi)容。所以，電子元器件的失效分析成為其中很重要的部分。

2021-08-23 13:55:14

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