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        開發(fā)及功能驗(yàn)證
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        外觀檢測
        X-Ray檢測
        功能檢測
        破壞性檢測
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        刮擦測試
        HCT測試
        開蓋測試
        增值服務(wù)
        烘烤
        編帶
        包裝與物流
        DPA檢測-三級
        外觀檢測
        X-Ray檢測
        功能檢測
        粒子碰撞噪聲檢測
        密封
        內(nèi)部水汽含量
        超聲波掃描(SAT檢測)
        可焊性測試
        開蓋測試
        鍵合強(qiáng)度
        芯片剪切強(qiáng)度
        結(jié)構(gòu)
        非破壞分析
        3D數(shù)碼顯微鏡
        X-Ray檢測
        超聲波掃描(SAT檢測)
        電性檢測
        半導(dǎo)體組件參數(shù)分析
        電特性測試
        點(diǎn)針信號量測
        靜電放電/過度電性應(yīng)力/閂鎖試驗(yàn)
        失效點(diǎn)定位
        砷化鎵銦微光顯微鏡
        激光束電阻異常偵測
        Thermal EMMI(InSb)
        破壞性物理分析
        開蓋測試
        芯片去層
        切片測試
        物性分析
        剖面/晶背研磨
        離子束剖面研磨(CP)
        掃描式電子顯微鏡(SEM)
        工程樣品封裝服務(wù)
        晶圓劃片
        芯片打線/封裝
        競爭力分析
        芯片結(jié)構(gòu)分析
        新產(chǎn)品開發(fā)測試(FT)
        FPGA開發(fā)
        單片機(jī)開發(fā)
        測試電路板設(shè)計/制作
        關(guān)鍵功能測試
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        穿透式電子顯微鏡(TEM)
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        光譜能量分析儀
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        失效分析相關(guān)資訊
        電子產(chǎn)品常見的失效分析方法有哪幾種?.png
        電子產(chǎn)品常見的失效分析方法有哪幾種?

        失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及,它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。

        2021-08-09 15:47:00
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        磨損失效分析
        磨損失效分析

        磨損是摩擦作用下物體相對運(yùn)動時,表面逐漸分離出磨屑而不斷損傷的現(xiàn)象。 磨損失效是指由于磨損現(xiàn)象的發(fā)生使機(jī)械零部件不能達(dá)到原設(shè)計功效,即不能達(dá)到原設(shè)計水平。磨損失效是逐步發(fā)展、漸變的過程,短則幾小時,長則幾年,磨損與斷裂、腐蝕并稱為金屬失效分析的三種形式,其危害十分驚人。

        2021-07-30 18:20:29
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        鹽霧測試哪里可以做?鹽霧測試國家標(biāo)準(zhǔn)及注意事項(xiàng)
        腐蝕失效分析

        腐蝕失效腐蝕是指金屬或合金材料表面因發(fā)生化學(xué)或電化學(xué)反應(yīng)而引起的損傷現(xiàn)象。金屬腐蝕雖然在酸洗、化學(xué)電源、電解加工、金相浸蝕等方面起著有益于人類的作用,但是它在國民經(jīng)濟(jì)上所造成的損失是相當(dāng)嚴(yán)重的。由于腐蝕作用是機(jī)械構(gòu)件喪失原設(shè)計功能的現(xiàn)象稱為腐蝕失效。

        2021-07-30 17:34:00
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        元器件可靠性測試中失效分析FA、破壞性物理分析DPA有何作用?
        元器件可靠性測試中失效分析FA、破壞性物理分析DPA有何作用?

        電子元器件是電子產(chǎn)品的組成部分,受電子元器件質(zhì)量的影響,電子產(chǎn)品的質(zhì)量與性能也會發(fā)生變化。從20世紀(jì)50年代開始,國外就興起了可靠性技術(shù)研究,而國內(nèi)則是從改革開放初期開始發(fā)展。通過可靠性試驗(yàn),可以確定電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下工作或存儲時的可靠性特征量,為使用、生產(chǎn)和設(shè)計提供有用的數(shù)據(jù);也可以暴露產(chǎn)品在設(shè)計、原材料和工藝流程等方面存在的問題。通過失效分析、質(zhì)量控制等一系列反饋措施,可使產(chǎn)品存在的問題逐步解決,提高產(chǎn)品可靠性

        2021-07-29 15:55:42
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        怎么做失效分析?六種失效分析方法安利給你
        怎么做失效分析?六種失效分析方法安利給你

        失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動。失效分析在產(chǎn)品的可靠性質(zhì)量保證和提高中發(fā)揮著重要作用,在產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)、使用中都需要引入失效分析工作。還在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。那么怎么做失效分析?以下幾種失效分析方法安利給大家。

        2021-05-31 18:26:00
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        芯片失效分析
        芯片失效分析怎么做?失效分析基本步驟及常用設(shè)備簡介

        隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動。

        2021-04-27 15:57:00
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        談?wù)勲娮釉骷氖Х治龊凸收显? height=
        談?wù)勲娮釉骷氖Х治龊凸收显?/a>

        電路故障是每個工程師都比較頭疼的事情,電子元器件在使用過程中,也會出現(xiàn)失效和故障,從而影響設(shè)備的正常工作。下面就來了解一下電子元器件的失效分析和故障原因。如果熟悉了元器件的故障類型,有時通過直覺就可迅速的找出故障元件,有時只要通過簡單的電阻、電壓測量即可找出故障。

        2021-04-27 15:35:00
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        匯總:半導(dǎo)體失效分析測試的詳細(xì)步驟
        匯總:半導(dǎo)體失效分析測試的詳細(xì)步驟

        失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié),無論對于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因?yàn)槭Х治鲈O(shè)備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設(shè)備,因此借用外力,使用對外開放的資源,來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時需要準(zhǔn)備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

        2021-04-26 16:29:00
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        1 2 … 11 12 13
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