服務(wù)項(xiàng)目
        IC真?zhèn)螜z測(cè)
        DPA檢測(cè)
        失效分析
        開(kāi)發(fā)及功能驗(yàn)證
        材料分析
        可靠性驗(yàn)證
        電磁兼容(EMC)
        化學(xué)分析
        無(wú)損檢測(cè)
        標(biāo)簽檢測(cè)
        外觀檢測(cè)
        X-Ray檢測(cè)
        功能檢測(cè)
        破壞性檢測(cè)
        丙酮測(cè)試
        刮擦測(cè)試
        HCT測(cè)試
        開(kāi)蓋測(cè)試
        增值服務(wù)
        烘烤
        編帶
        包裝與物流
        DPA檢測(cè)-三級(jí)
        外觀檢測(cè)
        X-Ray檢測(cè)
        功能檢測(cè)
        粒子碰撞噪聲檢測(cè)
        密封
        內(nèi)部水汽含量
        超聲波掃描(SAT檢測(cè))
        可焊性測(cè)試
        開(kāi)蓋測(cè)試
        鍵合強(qiáng)度
        芯片剪切強(qiáng)度
        結(jié)構(gòu)
        非破壞分析
        3D數(shù)碼顯微鏡
        X-Ray檢測(cè)
        超聲波掃描(SAT檢測(cè))
        電性檢測(cè)
        半導(dǎo)體組件參數(shù)分析
        電特性測(cè)試
        點(diǎn)針信號(hào)量測(cè)
        靜電放電/過(guò)度電性應(yīng)力/閂鎖試驗(yàn)
        失效點(diǎn)定位
        砷化鎵銦微光顯微鏡
        激光束電阻異常偵測(cè)
        Thermal EMMI(InSb)
        破壞性物理分析
        開(kāi)蓋測(cè)試
        芯片去層
        切片測(cè)試
        物性分析
        剖面/晶背研磨
        離子束剖面研磨(CP)
        掃描式電子顯微鏡(SEM)
        工程樣品封裝服務(wù)
        晶圓劃片
        芯片打線/封裝
        競(jìng)爭(zhēng)力分析
        芯片結(jié)構(gòu)分析
        新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)測(cè)試(FT)
        FPGA開(kāi)發(fā)
        單片機(jī)開(kāi)發(fā)
        測(cè)試電路板設(shè)計(jì)/制作
        關(guān)鍵功能測(cè)試
        分立元器件測(cè)試
        功能檢測(cè)
        編程燒錄
        芯片電路修改
        芯片電路修改/點(diǎn)針墊偵錯(cuò)
        新型 WLCSP 電路修正技術(shù)
        結(jié)構(gòu)觀察
        穿透式電子顯微鏡(TEM)
        掃描式電子顯微鏡(SEM)
        雙束聚焦離子束
        成分分析
        穿透式電子顯微鏡(TEM)
        掃描式電子顯微鏡(SEM)
        光譜能量分析儀
        光譜能量分析儀
        車載集成電路可靠性驗(yàn)證
        車電零部件可靠性驗(yàn)證(AEC)
        板階 (BLR) 車電可靠性驗(yàn)證
        車用系統(tǒng)/PCB可靠度驗(yàn)證
        可靠度板階恒加速試驗(yàn)
        間歇工作壽命試驗(yàn)(IOL)
        可靠度外形尺寸試驗(yàn)
        可靠度共面性試驗(yàn)
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        UV紫外老化
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        水冷測(cè)試
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        機(jī)械類試驗(yàn)
        拉力試驗(yàn)
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        高應(yīng)變率-振動(dòng)試驗(yàn)
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        高應(yīng)變率-機(jī)械沖擊試驗(yàn)
        芯片封裝完整性-封裝打線強(qiáng)度試驗(yàn)
        芯片封裝完整性-封裝體完整性測(cè)試
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        四綜合(溫度、濕度、振動(dòng)、高度)
        自由跌落
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        腐蝕類試驗(yàn)
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        耐試劑試驗(yàn)
        IP防水/防塵試驗(yàn)
        IP防水等級(jí)(IP00~IP69K)
        冰水沖擊
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        JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測(cè)試
        IP防塵等級(jí)(IP00~IP69)
        電磁兼容(EMC)
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        傳導(dǎo)干擾測(cè)試
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        電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試
        電壓閃爍測(cè)試
        電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度
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        阻燃性試驗(yàn)
        阻燃性試驗(yàn)
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        失效分析相關(guān)資訊
        電子元器件失效分析(Failure analysis)
        電子元器件失效分析(Failure analysis)

        電子設(shè)備中大部分故障,究其最終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因,及時(shí)定位到元器件的故障原因,就能及時(shí)排除故障,讓設(shè)備正常運(yùn)行。電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。

        2022-03-09 14:30:00
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        PCB/PCBA失效分析(Failure analysis)
        PCB/PCBA失效分析(Failure analysis)

        PCBA是由PCB和各種電子元件組成的系統(tǒng)。PCB的主要材料是玻璃纖維和環(huán)氧樹脂的復(fù)合材料,分為單面板,雙面板和多層板。作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。由于PCB高密度的發(fā)展趨勢(shì)以及無(wú)鉛與無(wú)鹵的環(huán)保要求,越來(lái)越多的PCB出現(xiàn)了潤(rùn)濕不良、爆板、分層、CAF等等各種失效問(wèn)題。PCB失效機(jī)理與原因的獲得將有利于將來(lái)對(duì)PCB的質(zhì)量控制,從而避免類似問(wèn)題的再度發(fā)生。

        2022-03-09 14:00:00
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        復(fù)合材料失效分析(Failure analysis)
        復(fù)合材料失效分析(Failure analysis)

        復(fù)合材料,是由兩種或兩種以上不同性質(zhì)的材料,通過(guò)物理或化學(xué)的方法,在宏觀(微觀)上組成具有新性能的材料。各種材料在性能上互相取長(zhǎng)補(bǔ)短,產(chǎn)生協(xié)同效應(yīng),使復(fù)合材料的綜合性能優(yōu)于原組成材料而滿足各種不同的要求。復(fù)合材料的基體材料分為金屬和非金屬兩大類。金屬基體常用的有鋁、鎂、銅、鈦及其合金。非金屬基體主要有合成樹脂、橡膠、陶瓷、石墨、碳等。增強(qiáng)材料主要有玻璃纖維、碳纖維、硼纖維、芳綸纖維、碳化硅纖維、石棉纖維、晶須、金屬絲和硬質(zhì)細(xì)粒等。

        2022-03-09 13:45:00
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        涂/鍍層失效分析(Failure analysis)
        涂/鍍層失效分析(Failure analysis)

        涂/鍍層不僅能夠裝飾零部件的外觀,修復(fù)零件表面缺陷,而且還能賦予零件表面特殊性能,包括提高表面硬度、耐磨性、耐蝕性、導(dǎo)電性和高溫抗氧化性等。涉及到的產(chǎn)品包括家用電器、汽車、門窗、金屬緊固件和電子產(chǎn)品等。由于技術(shù)的全新要求和產(chǎn)品的高要求化,而客戶對(duì)高要求產(chǎn)品及工藝?yán)斫獠灰?,于是?鍍層材料分層、開(kāi)裂、腐蝕、變色等之類失效頻繁出現(xiàn),常引起供應(yīng)商與用戶間的責(zé)任糾紛,所以導(dǎo)致了嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失。通過(guò)失效分析一系列分析驗(yàn)證手段,可以查找其失效的根本原因及機(jī)理,其在提高產(chǎn)品質(zhì)量、工藝改進(jìn)及責(zé)任仲裁等方面具有重

        2022-03-09 13:25:00
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        可靠性基礎(chǔ)知識(shí) pcb常見(jiàn)品質(zhì)問(wèn)題分析方法
        可靠性基礎(chǔ)知識(shí) pcb常見(jiàn)品質(zhì)問(wèn)題分析方法

        PCB已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,品質(zhì)的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。由于成本以及技術(shù)的原因,PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過(guò)程中出現(xiàn)了大量的失效問(wèn)題。同一種失效模式,其中失效機(jī)理卻是是復(fù)雜多樣化的,需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段,才能找到真正的失效原因。

        2022-03-08 14:55:00
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        芯片失效分析如何處理?第三方檢測(cè)單位
        芯片失效分析如何處理?第三方檢測(cè)單位

        失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段,為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì),使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來(lái)越重要,芯片失效分析該如何處理?整理相關(guān)資料如下:

        2022-02-28 14:43:00
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        PCB失效問(wèn)題檢測(cè) 電子元件失效分析技術(shù)應(yīng)用
        PCB失效問(wèn)題檢測(cè) 電子元件失效分析技術(shù)應(yīng)用

        眾所周知,產(chǎn)品的失效會(huì)造成較嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失和品質(zhì)影響,然而PCB失效的模式多種多樣,失效根因也各不相同。PCB的主要材料是玻璃纖維和環(huán)氧樹脂的復(fù)合材料,分為單面板,雙面板和多層板。因此,如何快速地定位出PCB的失效根因,并對(duì)產(chǎn)品的各項(xiàng)性能進(jìn)行優(yōu)化提升,已成為PCB行業(yè)的顯得尤為重要。

        2022-02-25 13:38:39
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        失效分析的常規(guī)方法及思路
        失效分析的常規(guī)方法及思路

        失效是指電子元器件出現(xiàn)的故障。各種電子系統(tǒng)或者電子電路的重要組成部分一般是不同類型的元器件,當(dāng)它需要的元器件較多時(shí),則標(biāo)志其設(shè)備的復(fù)雜程度就較高;反之,則低。一般還會(huì)把電路故障定義為:電路系統(tǒng)規(guī)定功能的喪失。

        2022-02-23 16:54:13
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        了解電子元件失效分類和失效機(jī)理
        了解電子元件失效分類和失效機(jī)理

        電子元件的發(fā)展歷史實(shí)際上是電子發(fā)展的簡(jiǎn)史。電子技術(shù)是一種新技術(shù),在二十世紀(jì),它發(fā)展最快,使用最廣泛,它已成為現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)發(fā)展的重要標(biāo)志。為了促進(jìn)電子信息技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展,就要提高電子元器件的可靠性,因此掌握電子元器件失效分析的技術(shù)就變得十分必要。

        2022-02-23 16:27:27
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        MLCC失效模式及分析方法大全匯總
        MLCC失效模式及分析方法大全匯總

        常見(jiàn)的IC失效模式:靜電損傷、金屬電遷移、芯片粘結(jié)失效、過(guò)電應(yīng)力損失、金屬疲勞、熱應(yīng)力、電遷移失效、物理?yè)p傷失效、塑料封裝失效、引線鍵合失效。說(shuō)到MLCC失效原因,在產(chǎn)品正常使用情況下,失效的根本原因是MLCC 外部或內(nèi)部存在如開(kāi)裂、孔洞、分層等各種微觀缺陷。這些缺陷直接影響到MLCC產(chǎn)品的電性能、可靠性,給產(chǎn)品質(zhì)量帶來(lái)嚴(yán)重的隱患。

        2022-02-15 18:19:42
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        1 2 … 6 7 8 9 10 11 12 13
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